X-RAY電鍍膜厚儀標準件X射線測厚儀校正塊

用于校準和檢驗測厚儀的重要工具。

它具有已知的單位面積質(zhì)量或厚度的均勻覆蓋層,。

-般來說,，選擇測厚儀標準片時需考慮以下因素:

要求:應(yīng)根據(jù)測厚儀的厚度要求和實際測量需要選擇具有相應(yīng)的標準片。

2.覆蓋層和基體材料:標準片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,。然而,，對于試樣基材為合金成分的情況，有些儀器軟件允許標樣基材與被測試樣基材不同,，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同,。

3.x射線發(fā)射(或吸收)特性:校正標準塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的 x射線發(fā)射(或吸收)特性。如果厚度由x射線吸收方法或比率方法確定,，則厚度標準塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的

X射線鍍層測厚儀標準塊校正片

MicroP XRF-2020測厚儀標準塊

通用型:可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌

用于校正鍍層測厚儀

標準曲線及添加應(yīng)用程序

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

標準片可訂制,，均附帶標準證書