一,、概述

      國產(chǎn)六通道12-bit示波器SDS5106X HD,，支持 6 通道，具有 12-bit 垂直分辨率,、優(yōu)秀的本底噪聲性能和垂直測量精度,，能滿足更多通道和更高精度的測量需求。SDS5000X HD 的帶寬350 MHz/ 500 MHz/ 1 GHz,，采樣率可達 5 GSa/s,，存儲深度可達 2.5Gpts/通道；采用 SPO 技術(shù),，波形捕獲率高達 650 000 幀/秒,，具有256 級輝度等級及色溫顯示；創(chuàng)新的數(shù)字觸發(fā)系統(tǒng),，觸發(fā)靈敏度高,，觸發(fā)抖動小，支持豐富的智能觸發(fā),、串行總線觸發(fā)和解碼,；支持歷史 (History) 模式、分段采集 (Sequence),、模板測試,、搜索、導航,、波特圖和三相電源分析等高級分析模式,；具備豐富的測量和數(shù)學運算功能。SDS5000X HD 采用了 12.1 英寸電容式觸摸屏,，支持多種手勢實現(xiàn)對波形和菜單的常用操作,，結(jié)合前面板的多個一鍵操作按鍵，極大地優(yōu)化了操作示波器的效率,，提升了用戶體驗,。

二、主要特性

1,、帶寬：350 MHz, 500 MHz, 1 GHz

2,、垂直分辨率：12-bit

3、通道數(shù)：8/6/4+EXT

4,、低本底噪聲：在 1 GHz全帶寬下低至140 μVrms

5,、實時采樣率： 5 GSa/s

6、存儲深度： 2.5 Gpts

7,、波形刷新率：650,000 wfm/s（Sequence模式）

三,、國產(chǎn)六通道12-bit示波器SDS5106X HD設(shè)計特色

1,、高分辨率示波器，滿足更高精度的測試需求

      12-bit高分辨率ADC采樣,，更好地呈現(xiàn)波形細節(jié),；優(yōu)秀的本底噪聲,，在1GHz全帶寬下的底噪值僅為140 μVrms,，讓12-bit ADC充分發(fā)揮性能；直流增益精度±0.5%,，滿足更高精度的測試需求,。

2、多路信號時序分析,，一次完成電源軌測量

      現(xiàn)代電子系統(tǒng)中包含不同的芯片,、模塊等，不同電路模塊的信號在初始化和工作時可能相互影響,，通過上電時序測試,，可確保各模塊信號在正確的時間出現(xiàn)，避免信號沖突,、干擾,，保證系統(tǒng)正常運行。如在通信系統(tǒng)中,，收發(fā)模塊的上電時序不當,，可能造成數(shù)據(jù)傳輸錯誤。隨著技術(shù)的發(fā)展,，電路的復雜度不斷提高,，對上電時序測試也提出了新的挑戰(zhàn)。SDS5000X HD可一次捕獲所有相關(guān)信號的上電過程,，節(jié)省測量時間,，提高工作效率，減少因多次測量引入的誤差,，對有 8 個以上電源軌的復雜電路,，可一次完成測量。

3,、三相電分析

      使用八通道示波器進行三相電分析,，可以同時連接三相電的各相，對三相電壓,、電流信號進行同步測量,，能實時準確獲取三相電各相的波形和參數(shù)，直接觀察和比較三相電信號的相位關(guān)系,，確保三相電的相位平衡,。借助快速傅里葉變換（FFT）功能,，多通道示波器可對三相電壓、電流信號進行諧波分析,。選配三相電分析,，可以測試三相電機的向量圖，電能質(zhì)量,，進行效率分析等,。

4、完整的寬禁帶半導體解決方案

      八通道示波器和光隔離探頭,，補全了寬禁帶半導體測試的所有拼圖,。SDS5000X HD的上升時間達到了ps級別，可以捕捉到碳化硅（SiC）,、氮化鎵（GaN）的快速變化的波形,，分析開關(guān)過程中電壓，電流的瞬態(tài)變化和開關(guān)特性,。通過觀察信號的形狀,、過沖、振鈴等情況,，分析信號的完整性,，優(yōu)化電路設(shè)計。

5,、規(guī)格

五、其它產(chǎn)品

      SDM3065X系列數(shù)字萬用表以6?位高精度和10,000次/秒的高采樣速率著稱,，滿足多種精密測量需求,。它同樣具備數(shù)據(jù)可視化功能，支持多通道掃描卡測量,，便于復雜環(huán)境下的應用,。標配1Gb Nand Flash，并可通過VXI-11,、USBTMC等方式導入導出數(shù)據(jù),，提升工作效率。此外,，其USB-GPIB選件擴展了接口功能,，使得儀器更加靈活易用。