日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷,，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量,。且無需對焦,，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置?？稍u價nｍ級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦,，可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置?？梢苑墙佑|,、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息,。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息,，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實現(xiàn)可視化,。肉眼無法看到的透明薄膜內(nèi)部的填充劑，通過一次拍照即可觀察到,。此外,，通過在測量后改變深度方向的焦點，可以識別到各個深度的填充劑,。日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 

可攜帶至現(xiàn)場的手持式,，可測量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測量,。 不論基材材質(zhì),、可測量其鍍膜。與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場”以非破壞式直接量測樣品,，且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,，也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比,，Smart膜厚儀不需要制作檢量線,，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！

ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機(jī)型,，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential,，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置,。作為新的功能,，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定,。另外,，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定,、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析,。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層,，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量,。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性,。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi),，可以進(jìn)行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。