日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II
- 公司名稱 日立科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/25 21:41:59
- 訪問次數(shù) 14
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掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析,,在納米技術(shù),、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,。 近年來,,掃描電鏡觀察表面精細結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加,而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線,、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡,。因此,體積小,、操作簡便,、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm,、長640mm,,相比SU1510型號體積減小52%,,重量減輕45%,功耗減小50%,,且配備標準化的電源接口,。主機與供電單元可分離,安裝非常靈活,。
FlexSEM 1000 II,,憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率,。全新開發(fā)的用戶界面,,具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能,可以在短時間內(nèi)進行各種觀察,。此外,,還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,,實現(xiàn)最直觀的視野移動,。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借的高靈敏度二次電子,、背散射電子檢測器,、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)清晰的畫質(zhì)
全新的用戶界面,,無論用戶的熟練程度如何,,都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位
大直徑(30毫米2)無氮EDS檢測器,,可快速進行元素分析*2
*1設(shè)置到桌面上時,,請將機體與電源盒分離
*2選項