NSG4070D-A230M-50 射頻傳導抗擾度測試系統(tǒng)

AMETEK CTS 非常高興地向廣大客戶發(fā)布 Teseq 品牌在 EMC抗擾度測試領域的全新產(chǎn)品——NSG 4070D 系列射頻傳導抗擾度測試系統(tǒng),。

作為一款先進的一體化機解決方案，NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特點：

集成了信號發(fā)生器

可以產(chǎn)生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信號,，輸出電平范圍為 -60 dBm 至 +10 dBm,。

調制能力

支持抗擾度標準常用的幅度調制（AM）和脈沖調制（PM），可靈活根據(jù)標準設置調制參數(shù),。

信號源的輸出電平范圍更寬

提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范圍內的輸出功率,，帶來更大的靈活性，適應更加多樣化的測試條件,。

內置了射頻功放模塊

提供了覆蓋不同頻率范圍和不同線性功率的多種功放模塊,，滿足不同應用的需要。

支持外置功率放大器

還可集成外部的獨立的射頻功放以便構成系統(tǒng),，實現(xiàn)更寬的頻率范圍和/或更高的輸出功率,，從而滿足擴展的測試要求。

靈活的外置設備切換功能

支持通過射頻開關例如 SW 4070 開關單元,，方便切換外部設備和電流監(jiān)測探頭例如 MD 4070 等設備,。

內置了多達 5 路的功率測量單元

3 路外部測量,、2 路內部測量,，可以輕松實現(xiàn)對內部的功放模塊或者外部功放的前向和反向功率、電流等參數(shù)的測量,。

EUT 監(jiān)測能力

標配對被測物 EUT 的監(jiān)測功能,，可以通過數(shù)字 TTL 輸入端口、24 V 數(shù)字輸入端口和光纖輸入端口來完成,。此外,，它可以監(jiān)測高達 24 V 的模擬電壓，精度為 6 mV,，可以確保對設備性能的全面評估,。

廣泛的應用范圍

可覆蓋廣泛的不同行業(yè)的標準,，適用于汽車、醫(yī)療,、軍標,、工業(yè)設備和消費電子產(chǎn)品。

與以前的 NSG 4070 系列相比,，我們對新的 NSG 4070D 系列進行了顯著的改進和提升,。

AMETEK 全新設計

對主要部件進行了全面的重新設計，提高了整體產(chǎn)品的性能和可靠性,。

重新定義了內置的功率模塊的可選型號

提供四種功率模塊,，滿足不同的測試需求。

3U 高度的緊湊型設計

所有型號均只有 3U 的機箱高度,，不但適合實驗室使用,，還可便攜到外場測試。

當代風格的操作界面

全新的用戶界面,，設計更精簡,、直觀，操作更容易,，帶來用戶體驗的提升,。

支持低頻磁場抗擾度測試

其中兩個型號可支持 IEC 61000-4-39 的低頻磁場抗擾度測試。

可直接調用的相關標準的測試

已經(jīng)編好相關的測試程序,，直接調用即可,，涵蓋工業(yè)、汽車,、和航空電子測試的主要應用,。

插入損耗測量功能

為測量無源器件的插入損耗提供了專用的測量功能。