SWB45-4貝克休斯SWB45-4斜探頭
- 公司名稱 啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/19 8:39:57
- 訪問次數(shù) 34
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超聲波探傷儀,、磁粉探傷儀,、黑光燈、硬度計(jì),、著色探傷劑,、熒光滲透劑,、示波器,、萬用表、數(shù)字電橋,、安規(guī)測(cè)試儀,、頻譜儀、電子負(fù)載,、電源,、信號(hào)源等等
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,冶金,航天,汽車,綜合 |
SWB45-4貝克休斯SWB45-4斜探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司全國*
SWB70-2美國GE/SWB70-2斜探頭|貝克休斯SWB70-2斜探頭由啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司優(yōu)惠價(jià)供應(yīng)美國GE/SWB70-2斜探頭
用于大尺寸、厚部件的焊縫檢測(cè),,如管,、儲(chǔ)罐,、壓力容器、輪軸,、鍛件,、鑄件、橋梁及其他結(jié)構(gòu)件,、鐵路路軌及車輪
SWB,、SWK型探頭尺寸適合手工檢測(cè),有良好的近場分辨力和窄脈沖寬度,,是檢測(cè)小部件通用工具,,也能夠檢測(cè)大尺寸物體
SWB系列:
晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:30-60接口類型:Lemo 01
角度 | 1MHz | 2MHz | 4MHz |
35° | SWB35-1 | SWB35-2 | SWB35-5 |
35° | SWB35-O2 | ||
45° | SWB45-1 | SWB45-2 | SWB45-5 |
45° | SWB45-O2 | SWB45-O5 | |
60° | SWB45-2-EN | ||
60° | SWB60-1 | SWB60-2 | SWB60-5 |
70° | SWB60-O2 | SWB60-O5 | |
70° | SWB60-2-EN | ||
80° | SWB70-2 | SWB70-5 | |
90° | SWB70-O2 | ||
35° | SWB70-2-EN | ||
45° | SWB80-1 | SWB80-2 | SWB80-5 |
SWB90-1 |
晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:60-80接口類型:
角度 | 1MHz | 2MHz | 5MHz |
35° | SWK70-1 | SWK35-2 | |
45° | - | SWK45-2 | SWK45-5 |
60° | - | SWK60-2 | SWK60-5 |
70° | - | SWK70-2 | SWK |
型號(hào)說明:
-EN表示探頭有DINEN12668-2證書,如WB35-2-EN,。
MWB90-O4
2MHz | 35 | MWB35-4 |
MWB35-2-EN | 35 | MWB35-O4 |
MWB35-O2-EN | 45 | MWB45-4 |
MWB45-2-EN | 45 | MWB45-O4 |
MWB45-O2-EN | 60 | MWB60-4 |
MWB60-2-EN | 60 | MWB60-O4 |
MWB60-O2-EN | 70 | MWB70-4 |
MWB70-2-EN | 70 | MWB70-O4 |
MWB70-O2-EN | 80 | MWB80-4 |
80 | MWB80-O4 | |
90 | MWB90-4 | |
MWB90-O2 |
一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,,又稱分割式探頭。由兩個(gè)縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,,又稱雙晶直探頭,;由兩個(gè)橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,又稱雙晶斜探頭,。
這兩種雙晶探頭中,,雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個(gè)縱波晶片一個(gè)用于發(fā)射超聲,,一個(gè)用于接收超聲,。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰,。(見下圖)
區(qū)別于單晶探頭而言,,雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng),、絕緣性好的隔聲層,,它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄,、分辨率提高,、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片,有效減少雜波,。
由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊,,能使探傷盲區(qū)大幅減小,故雙晶探頭對(duì)表面缺陷的探傷十分有利,。
正確選擇雙晶探頭
1,、探頭頻率的選擇
超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高時(shí),,波長短,,聲束指向性好,,擴(kuò)散角較小,能量集中,,因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強(qiáng),、分辨力好、缺陷定位準(zhǔn)確,。但高頻率超聲在材料中衰減較大,,穿透能力較差,反之亦然,。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷,,不需要較強(qiáng)的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭,。對(duì)于鍛件,,板材,棒材等晶粒細(xì)小的工件,,可以采用5MHz的雙晶探頭(若被檢工件表面較粗糙,,高頻超聲散射較大,不易射入,,則容易出現(xiàn)林狀回波),。對(duì)于晶粒粗大,超聲散射嚴(yán)重的材料,,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,,頻率高時(shí),也會(huì)出現(xiàn)晶界引起的林狀回波,,致使無法探傷,,對(duì)于這一類材料,建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭,。
2,、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看,雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū),,跟晶片的大小沒有直接的關(guān)系,。雙晶探頭的晶片大小,只與工件探測(cè)面積的大小有關(guān),,當(dāng)檢測(cè)面積大時(shí),,為了提高探傷效率,,宜采用晶片尺寸較大的探頭,。當(dāng)檢測(cè)面積較小,或者檢測(cè)面帶有一定曲率的情況下,,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭,。
3,、焦距的選擇雙晶探頭的兩個(gè)晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會(huì)產(chǎn)生相交,,形成棱形的區(qū)域,,此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長,,焦距愈大,,探測(cè)深度愈深,適合厚工件的探傷檢驗(yàn),,菱形區(qū)愈短,,焦距愈小,探測(cè)深度愈淺,,適合薄工件的探傷,。處于棱形區(qū)的缺陷,其反射信號(hào)強(qiáng),,同時(shí)對(duì)于同樣大小的缺陷,,位于棱形區(qū)中心時(shí),反射信號(hào),。因此在實(shí)際探傷過程中,,要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕唷=咕嘣叫?,則對(duì)薄工件的探傷越有利,。一般來說,選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右,。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高,,到達(dá)最大值后又隨深度增加而下降田,這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點(diǎn),。
雙晶直探頭板材檢測(cè)
1,、探頭的選擇
板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭,探傷的目的就是掃查出缺陷在整個(gè)厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布,,根據(jù)缺陷大小,,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位,,其次是板厚的1/4和3/4處,,所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整,必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力,,且其他部位不漏檢,。例如檢測(cè)20mm規(guī)格鋼板,缺陷在10mm處易出現(xiàn),選擇焦距F10探頭,,以20mm大平底調(diào)整靈敏度,,既能保證10mm位置處較高的檢測(cè)靈敏度,又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對(duì)于10mm鋼板,,選擇焦距F5探頭,,以10mm大平底調(diào)整靈敏度,保證了5mm位置處較高的檢測(cè)能力,,又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同,,所以,為保證鋼板檢測(cè)質(zhì)量,,理想的雙晶探頭焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半,。
2、掃查方式
NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見下圖
1)鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)(50,、75,、100)100%掃查; 2)中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查,。
3)雙晶直探頭掃查時(shí),,探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直。
3,、缺陷性質(zhì)估計(jì)
分層:缺陷波形陡直,,底波明顯下降或消失;
折疊:不一定有缺陷波,,但底波明顯下降,,次數(shù)減少甚至消失,始波加寬,;
白點(diǎn):波形密集尖銳活躍,,底波明顯下降,次數(shù)減少,,重復(fù)性差,,移動(dòng)探頭,回波此起彼伏,。
系列 | 型號(hào) | 頻率 (MHz) | 焦距 (mm) | 單晶片尺寸 (mm) | 外觀尺寸 | 帶寬 | 接口類型 | 接口方向 |
SEB | SEB 1 | 1 | 20 | Φ21半圓 | 類型15 | 40 | 雙聯(lián) Lemo 00 | 側(cè)裝 |
SEB 1-EN | 1 | 20 | ||||||
SEB 2 | 2 | 15 | 7x18 | |||||
SEB 2-EN | 2 | 15 | ||||||
SEB 2-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 2-EN-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 4 | 4 | 12 | 6x20 | |||||
SEB 4-EN | 4 | 12 | ||||||
SEB 4-0° | 4 | 25 | ||||||
SEB 4-EN-0° | 4 | 25 | ||||||
MSEB | MSEB 2 | 2 | 8 | Φ11半圓 | 類型16 | 40 | ||
MSEB 2-EN | 2 | 8 | ||||||
MSEB 4 | 4 | 10 | 3.5x10 | |||||
MSEB 4-EN | 4 | 10 | ||||||
MSEB 4-EN-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 4-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 5 | 5 | 10 | Φ9半圓 | |||||
SEB KF | SEB 2 KF 5 | 2 | 6 | Φ8半圓 | 類型17 | 30-60 | Microdot X2 | |
SEB 4 KF 8 | 4 | 6 | ||||||
SEB 4 KF 8-EN | 4 | 6 | ||||||
SEB 5 KF 3 | 5 | 3 | ||||||
SEB 10 KF 3 | 10 | 3 | Φ5半圓 | 類型18 | ||||
SEB 10 KF 3-EN |
特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊,,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測(cè)量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估
焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量(包括高溫情況下測(cè)量)
粘結(jié)檢測(cè)
螺釘,,螺栓,,銷釘
覆層和堆焊層
軸,桿,,方坯芯檢測(cè)
粗晶材料
火車車輪
啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司是一家專業(yè)從事無損檢測(cè)設(shè)備代理的公司,,主營超聲波檢測(cè)設(shè)備及探頭,、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀,、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備,品牌有奧林巴斯NDT,、美國磁通,、美國sherwen、汕超,、新美達(dá),、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來,,公司堅(jiān)持走科技創(chuàng)新之路,,不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù),加大應(yīng)用技術(shù)人員投入,。
公司提供的無損檢測(cè)儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī),、工業(yè)CT、CR,、DR,、工業(yè)洗片機(jī)、超聲波探傷儀,、超聲波相控陣,、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探頭,、渦流探頭,、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測(cè)解決方案,、渦流陣列探傷儀,、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀,、渦流陣列,、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑,、熒光滲透線,、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料超聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),、大型超聲波板材檢測(cè)系統(tǒng),、大型超聲波管材檢測(cè)系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測(cè)系統(tǒng),、汽車點(diǎn)焊超聲波成像分析儀和其它實(shí)驗(yàn)室儀器,。
超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀,、膠片,、探傷劑、耦合劑,、試塊,、洗片槽、膠片機(jī),、黑光燈,、紫外線燈、相控陣探頭,、單晶直探頭,、雙晶直探頭、單晶斜探頭,、雙晶斜探頭,、水浸探頭、保護(hù)膜探頭,、表面波探頭,、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭,、TOFD探頭,、楔塊探頭、楔塊,、導(dǎo)波探頭,、磁性探頭、單晶連接線,、雙晶連接線,、反差增強(qiáng)劑、密度計(jì),、觀片燈,、洗片夾、拉環(huán)磁鋼,、鉛字,、射線機(jī)、射線燈,、個(gè)人劑量報(bào)警儀,、輻射儀、環(huán)境輻射儀,、黑油磁懸液,、黑水磁懸液,、紅油磁懸液、紅水磁懸液,、紅磁膏,、黑磁膏、紅磁粉,、黑磁粉,、噴壺、提升力試塊,、梨形測(cè)定管,、直型測(cè)定管,、消泡劑,、防銹劑、分散劑,、磁場強(qiáng)度計(jì),、白光照度計(jì)、紫外照度計(jì),、暗室紅燈,、三色燈、顯影粉,、定影粉,、顯影液、定影液,、暗袋,、增感屏、防護(hù)背心,、鉛衣,、像質(zhì)計(jì)、無損檢測(cè)配件,、
長期以來,,依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍,本著誠信守法,,客戶的經(jīng)營原則,,以良好的信譽(yù)、豐富的經(jīng)驗(yàn),、周到的服務(wù),,為客戶提供了的檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)解決方案,贏得了國內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評(píng),。我們提供的設(shè)備,、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國的各種工業(yè)領(lǐng)域,,特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造,、石油化工,、船舶制造、冶金,、鐵路,、核工業(yè)及電力、特檢,、高校及研究機(jī)構(gòu)等,。
良好信譽(yù) – 啟航檢測(cè)科技作為無損檢測(cè)行業(yè)的,依托高素質(zhì)團(tuán)隊(duì)及誠信周到的服務(wù),,得到了客戶的一致贊同,。
豐富經(jīng)驗(yàn) – 啟航檢測(cè)科技的銷售人員及技術(shù)人員大部分都擁有本科及以上學(xué)歷,在無損檢測(cè)行業(yè)有著多年的經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí),。
高效服務(wù) – 啟航檢測(cè)科技總部位于上海,,全國主要城市設(shè)立分支機(jī)構(gòu)。任何時(shí)間和地點(diǎn),,隨時(shí)準(zhǔn)備好為您提供及時(shí)可靠的服務(wù),。
解決方案 – 啟航檢測(cè)科技依托高素質(zhì)的技術(shù)團(tuán)及專業(yè)的本地化服務(wù),我們隨時(shí)為您提供及時(shí)全面的無損檢測(cè)解決方案,。