CRAIC 顯微分光光度計(jì)
- 公司名稱 北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/10 11:27:38
- 訪問(wèn)次數(shù) 40
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全球備受信賴的顯微分光光度計(jì)品牌CRAIC 產(chǎn)品系列及應(yīng)用范圍
CRAIC Technologies 是一家位于美國(guó)加利福尼亞州圣迪馬斯市的科學(xué)儀器公司,是創(chuàng)新光譜解決方案的供應(yīng)商,,專門設(shè)計(jì)和制造用于光譜分析和成像的優(yōu)良儀器,。CRAIC Technologies致力于追求卓yue和客戶滿意度,不斷拓展光譜技術(shù)的邊界,,為研究人員和行業(yè)專業(yè)人士提供優(yōu)良的科學(xué)發(fā)現(xiàn)和分析工具,。其市場(chǎng)遍布全球。CRAIC公司創(chuàng)始人:保羅?馬丁博士,、李珠美博士,。自 2002 年起,公司專注于制造紫外 - 可見(jiàn) - 近紅外(UV - VIS - NIR)波段的微型光譜分析解決方案,。CRAIC 在中國(guó)的授權(quán)經(jīng)銷商為北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司,。
產(chǎn)品涵蓋:UV - VIS - NIR 微型光譜儀(MSP)及相關(guān)顯微鏡產(chǎn)品,還有其他顯微鏡技術(shù)相關(guān)產(chǎn)品,。
核心產(chǎn)品示例:VIS - NIR 拉曼顯微光譜儀,、用于折射率定量分析的設(shè)備等。
為何選擇 CRAIC 產(chǎn)品,?
全球信賴的品牌:CRAIC 是全球備受信賴的顯微分光光度計(jì)品牌,。
性能可靠:所有系統(tǒng)都具備強(qiáng)大且可靠的性能,。
技術(shù)融合優(yōu)勢(shì):專注于將光譜技術(shù)與微觀采樣區(qū)域相結(jié)合。
專業(yè)團(tuán)隊(duì)支持:擁有靈活且響應(yīng)迅速的團(tuán)隊(duì),,可提供儀器定制和技術(shù)支持服務(wù),。
定制工具的模塊化設(shè)計(jì)
顯微分光光度計(jì)連接方式:通過(guò)光電管端口連接到顯微鏡,還可擴(kuò)展其他端口,。
拉曼模塊適配:拉曼模塊可安裝在顯微鏡的無(wú)限遠(yuǎn)空間內(nèi),。
光譜技術(shù)選擇:基礎(chǔ)顯微鏡的類型決定了可使用的光譜技術(shù)。
CRAIC 儀器的應(yīng)用領(lǐng)域
法醫(yī)微量物證分析
材料科學(xué),、物理與化學(xué):包括材料表征,、半導(dǎo)體制造、平板顯示質(zhì)量控制等,。
地質(zhì)檢測(cè)
顯微鏡型號(hào)
UVM - 3:功能更強(qiáng)大,,但價(jià)格較高。
UVM - 1:具有預(yù)算友好的特點(diǎn),,在透射光(TL)下覆蓋 UV - VIS - NIR 波段,,在反射光(RL)下覆蓋 VIS - NIR 波段。
顯微分光光度計(jì)型號(hào)
2030PV Pro:基于 UVM - 1 框架,,配備 UVM - 1 的 MSP 主機(jī)單元,,最多可支持 3 個(gè)光譜儀。
508PV:MSP 主機(jī)單元可添加到現(xiàn)有顯微鏡上,,用于 1 個(gè)光譜儀。
Flex Pro:基于 UVM - 3 框架,,用于更高級(jí)的光譜分析,。
拉曼及成像產(chǎn)品
Apollo - M:共聚焦拉曼系統(tǒng),可與顯微鏡配套銷售,,也可添加到現(xiàn)有顯微鏡上,。
GeoImage:用于鏡質(zhì)體反射率測(cè)量的相機(jī)和軟件套裝。
rIQ3:用于法醫(yī)折射率測(cè)量的系統(tǒng),,包含相機(jī),、熱臺(tái)、濾光片,、標(biāo)準(zhǔn)樣品和油等,。
CRAIC 針對(duì)各市場(chǎng)的銷售產(chǎn)品
微量物證實(shí)驗(yàn)室:根據(jù)預(yù)算選擇 MSP 型號(hào)(僅配備 UV - VIS 探測(cè)器,無(wú) NIR - SWIR),,可添加 785nm 拉曼功能,。
材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室
核化學(xué)、單晶(鑭系 / 錒系)研究:適用 350 - 1700nm 光譜范圍,。
二維材料研究:適用 200 - 2100nm 光譜范圍,,可進(jìn)行透射 / 反射(T/R)和拉曼分析,。
超材料 / 納米結(jié)構(gòu)陣列研究:適用 200 - 2100(或 2500)nm 光譜范圍,可進(jìn)行 T/R 和拉曼分析,。
顯示 / 半導(dǎo)體領(lǐng)域:適用 VIS 顏色分析,,或 200 - 1000nm、200 - 2100nm 光譜范圍的 T/R 分析,。
地質(zhì)實(shí)驗(yàn)室
鏡質(zhì)體反射率測(cè)量:使用 GeoImage,。
煤巖組分計(jì)數(shù):使用 GeoImage 或 MaceralID。
殼質(zhì)組熒光 R/G 比測(cè)量:使用GeoImage 或搭配 508PV 進(jìn)行分析,。