CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析,。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀,、低真空系統(tǒng),，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等,。

核心優(yōu)勢(shì)

1,、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺(tái)式設(shè)計(jì),，體積小巧,，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室）,，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間,。

（2）支持快速移機(jī)，一臺(tái)設(shè)備滿足多場(chǎng)景需求,，助力科研效率提升,。

2、高性能,，納米級(jí)分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE）,，支持高達(dá)200,000倍放大，精準(zhǔn)捕捉納米材料,、微流控芯片等樣品的微觀形貌,。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號(hào),，滿足材料科學(xué),、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁,，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計(jì)（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)）,，消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量,。

（2）適用于工業(yè)車間,、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠,。

4,、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B）,，高真空模式最快1.5分鐘,，大幅縮短等待時(shí)間,。

（2）自動(dòng)對(duì)焦,、消像散、圖像增強(qiáng)功能,，一鍵生成高質(zhì)量圖片,，降低操作門檻。

5,、靈活拓展,，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測(cè),。

（2）CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡支持二次電子,、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計(jì),、孔隙率測(cè)量等定制功能,，滿足多領(lǐng)域分析需求。

應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）,、高熵合金粉末,、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測(cè),、涂層性能評(píng)估,。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測(cè)、藥物載體研究,。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量,、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng),，兼容大尺寸或多樣品批量分析,。

CEM3000B（抗振型）：專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定,。

部分技術(shù)指標(biāo)

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。