DX-HAST350F 電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱
參考價(jià) | ¥42600-¥99999/臺 |
- 公司名稱 東莞市德祥儀器有限公司
- 品牌德祥儀器
- 型號DX-HAST350F
- 所在地東莞市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2024/12/14 8:29:08
- 訪問次數(shù) 347
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合 |
---|---|---|---|
溫度范圍 | +100℃~+132℃ | 濕度范圍 | 70%~100% |
濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH | 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) |
壓力波動均勻度? | ±0.1Kg |
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test,簡稱HAST)是一種用于電子電路元件,、集成電路(IC),、電子組件和其他電子設(shè)備的加速老化測試設(shè)備。它通過模擬高溫,、高濕的環(huán)境,,快速評估電子元件在條件下的性能和可靠性。HAST試驗(yàn)箱常用于質(zhì)量控制,、產(chǎn)品驗(yàn)證和老化測試等環(huán)節(jié),。
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)和功能:
高溫高濕環(huán)境模擬:
溫度:通常可調(diào)范圍為85°C到180°C,,部分高中端設(shè)備可達(dá)到更高溫度,。
濕度:濕度控制范圍一般為85%RH到100%RH。
通過對高溫,、高濕環(huán)境的模擬,,加速電子元件的老化過程。
加速老化測試:
HAST試驗(yàn)箱通過模擬電子元件長期暴露在高溫,、高濕的環(huán)境下的情況,,從而加速故障的發(fā)生,幫助快速評估電子元件的耐久性,。
該測試能夠在短時(shí)間內(nèi)模擬出數(shù)年使用中的老化過程,,通常應(yīng)用于新品開發(fā)階段的可靠性測試和質(zhì)量控制。
快速檢測潛在問題:
HAST試驗(yàn)箱能夠加速檢測出元件的潛在問題,,如材料疲勞,、內(nèi)部短路、電氣性能下降等,。
它能快速識別影響產(chǎn)品可靠性的設(shè)計(jì)缺陷,、工藝問題或材料問題,。
自動化與監(jiān)控系統(tǒng):
現(xiàn)代HAST試驗(yàn)箱配備自動化監(jiān)控系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)監(jiān)控溫濕度變化,、壓力,、設(shè)備狀態(tài)等。
試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)記錄和分析,,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可追溯性,。
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的應(yīng)用領(lǐng)域:
電子元件測試:
主要用于測試集成電路(IC)、晶體管,、二極管,、電容、電阻等電子元件,。
特別適用于高密度封裝和高功率電子元件的老化測試,。
產(chǎn)品可靠性評估:
用于電子產(chǎn)品的全面可靠性評估,確保產(chǎn)品在環(huán)境下的正常工作,,如汽車電子,、通信設(shè)備,、消費(fèi)電子等領(lǐng)域的產(chǎn)品,。
質(zhì)量控制與認(rèn)證:
HAST試驗(yàn)箱幫助廠商在生產(chǎn)過程中進(jìn)行質(zhì)量控制,識別和解決產(chǎn)品的潛在質(zhì)量問題,。
許多電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證(如JEDEC,、IPC)要求進(jìn)行類似的高溫高濕加速老化測試。
研究與開發(fā):
在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和研發(fā)階段,,HAST測試可用于驗(yàn)證新材料,、新設(shè)計(jì)和新工藝的可靠性,確保產(chǎn)品在使用中的穩(wěn)定性和耐用性,。
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:通常從85°C到180°C(部分設(shè)備可擴(kuò)展),。
濕度范圍:85% RH至100% RH。
測試壓力:一般會設(shè)定一定的壓力(如2至3氣壓),,以促進(jìn)加速老化,。
樣品負(fù)載:可根據(jù)試驗(yàn)箱的容量,適應(yīng)不同數(shù)量和尺寸的樣品測試,。
控制系統(tǒng):配備精確的溫濕度控制系統(tǒng),,自動化控制溫濕度和試驗(yàn)過程。
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的測試原理:
HAST試驗(yàn)箱通過將電子元件置于高溫高濕的環(huán)境中,,并通過高氣壓或蒸汽環(huán)境加速老化過程,。這個(gè)過程中,電子元件暴露在高溫蒸汽和濕氣的影響下,,模擬其在長時(shí)間使用過程中的老化現(xiàn)象,。HAST測試可以加速元件內(nèi)部的物理和化學(xué)變化,,如:
金屬腐蝕
電氣絕緣劣化
焊點(diǎn)疲勞
封裝材料性能下降
這些變化會導(dǎo)致電子元件的失效,從而揭示潛在的設(shè)計(jì)或工藝問題,。
總結(jié):
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱是測試電子電路元件在濕熱環(huán)境下可靠性的關(guān)鍵設(shè)備,。它幫助廠商了解和改進(jìn)產(chǎn)品在高溫、高濕環(huán)境下的耐久性,,確保產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性和質(zhì)量,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、集成電路,、消費(fèi)電子,、汽車電子等領(lǐng)域,尤其在產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制過程中,,具有重要的作用,。
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