二手ZEISS-FEI掃描電鏡：蔡司SEM掃描電鏡采用了先進的電子顯微技術,，能夠在納米級別對樣品進行高分辨率的觀察和檢測,。無論是科研實驗室、醫(yī)療機構,、還是工業(yè)生產(chǎn)車間,，蔡司掃描電鏡都能提供觀察能力和分析效果。

蔡司SEM掃描電鏡的主要優(yōu)點：

1.高分辨率：蔡司掃描電鏡配備了高穩(wěn)定的電子槍和先進的成像系統(tǒng),，能夠提供高達數(shù)百萬像素的分辨率,，清晰地呈現(xiàn)出樣品的細節(jié)和特征。

2.多種觀察模式：蔡司SEM掃描電鏡支持多種觀察模式,，如表面形貌觀察,、元素分析、晶體結構解析等,，滿足不同領域的研究和檢測需求,。

3.自動化操作：蔡司掃描電鏡配備了先進的自動化操作系統(tǒng),，能夠?qū)崿F(xiàn)自動對焦、圖像采集,、數(shù)據(jù)分析等,，提高工作效率和準確性。

4.實時圖像處理：蔡司SEM掃描電鏡支持實時圖像處理功能,，能夠?qū)Σ杉降膱D像進行多種后期處理和分析,，如對比度調(diào)整、濾波,、測量等,。

二手ZEISS-FEI掃描電鏡：電鏡參數(shù)

二、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術參數(shù)
1,、分辨率：2.0nm @ 30KV(SE with Lab6 option)   3.0nm @ 30KV(SE and W)   4.5nm @ 30KV(VP with BSD)
2,、加速電壓：0.2—30KV
3、放大倍數(shù)：5—1000000x
4,、視野范圍：6mm
5,、X-射線參數(shù)：8.5mm WD，35度接收角
6,、壓力范圍：10—400Pa (LS15:10-3000Pa)
7,、工作室：365mm(φ)×275mm(h)
8、5軸優(yōu)自動樣傯ǎ篨=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°
9,、試樣高度：145mm,，試樣直徑：250mm
10、系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM

三,、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15主要特點
1,、能在可變壓力下操作
2、X射線和EBSD分析
3,、快速抽真空
4、未來的保證,，可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
5,、高亮度LaB6資源選擇
6、光線套選擇
7,、可移動大平臺

四,、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術優(yōu)勢
1、在z軸上可機動化的移動50毫米并且在X和y軸上可移動125毫米
2,、樣本高度增加到145毫米
3,、改進了低真空圖像
4、X-射線分析技術