ZEISS/蔡司Sigma 系列產品掃描顯微鏡

結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和高級分析性能，用于顆粒,、表面和納米結構成像,。Sigma 的4步半自動工作流程節(jié)省了大量的工作時間.

介紹

靈活的探測，4步工作流程,，高級的分析性能

將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒,、表面或者納米結構成像,。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率,。

Sigma 360 性價比高,。Sigma 560 裝配的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析,。任何時間，任何樣品均可獲得準確,、可重復的分析結果,。

ZEISS/蔡司Sigma 系列產品掃描顯微鏡特點

用于清晰成像的靈活探測

    利用優(yōu)良探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品,。

    利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息,。

    利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像,。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

自動化加速工作流程

    4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能,。在多用戶環(huán)境中,，從快速成像和節(jié)省培訓首先,，先對樣品進行導航，然后設置成像條件,。

    首先,，先對樣品進行導航，然后設置成像條件,。

    接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像,。最后使用工作流程的最后一步，將結果可視化,。

高級分析型顯微鏡

    將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma 背散射幾何探測器大大提升了分析性能,，特別是對電子束敏感的樣品。

    在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù),。

    獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,，獲取完整且無陰影的分析結果。

Gemini光學元件

基于成熟的 Gemini 技術

● Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,，并將場對樣品的影響降至更低,。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

● Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間,。

● Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪

靈活的探測

用于清晰成像的靈活探測

● 利用新的探測技術表征所有的樣品。

● 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息,。

● 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像,。

● 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。

● 利用 BSD4 或者 YAG 探測器進行成份分析

可視化及分析軟件

蔡司Atlas 5-挑戰(zhàn)多尺度分析

Atlas 5可以簡化您的工作：以樣本為中心的關聯(lián)環(huán)境下為您創(chuàng)建多尺度,、多模式的綜合圖片,。Atlas 5集強大的硬件和易于操作的軟件為一體，大大拓展了蔡司掃描電鏡（SEM）的應用范圍,。

可視化及分析軟件

蔡司推薦您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解決方案可為X射線,，FIB-SEM，SEM以及氦離子顯微鏡獲取的三維數(shù)據(jù)進行可視化三維重構和分析,。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可視化技術和優(yōu)異的圖形處理技術,。Dragonfly Pro支持通過簡單易用的Python腳本進行定制。用戶可以掌控3D數(shù)據(jù)后期處理環(huán)境和流程

配件

集成式 EDS 解決方案

在低能量分析應用中同時實現(xiàn)高清晰度成像

Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案,，擁有高可用性和低電壓靈敏度,。僅需使用一臺計算機來控制 EDS 和 SEM，進而大大提升了該集成化解決方案的易用性,。同時,，借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設計的用戶界面可實現(xiàn)并行控制。

• 集成化：通過集成化,，結合高清晰成像與快速分析,，從而獲得不錯結果

• 定制化：根據(jù)不同的用戶需求定制軟件

• 靈敏度：氮化硅窗口增強低能X射線的探測靈敏度

拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

集成化的拉曼成像

獲取樣品中化學結構的指紋信息：聚焦拉曼光譜成像可擴展您的蔡司Sigma 360 掃描電鏡性能,。 分析獲得樣品分子結構和結晶信息。 通過拉曼成像與EDS數(shù)據(jù)可進行3D 分析并與SEM圖像關聯(lián),。集成化的拉曼成像掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使你充分發(fā)揮SEM和拉曼系統(tǒng)的功能,。