ZEISS/蔡司Sigma 系列產(chǎn)品掃描顯微鏡
參考價(jià) | ¥500000-¥1000000/臺 |
- 公司名稱 深圳市逸馬貿(mào)易有限公司
- 品牌ZEISS/蔡司
- 型號
- 所在地深圳市
- 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間2024/11/27 13:33:27
- 訪問次數(shù) 279
聯(lián)系方式:馬先生15220080939 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
儀器儀表系列:示波器、頻譜分析,、網(wǎng)絡(luò)分析儀,、信號發(fā)生器、色彩分析儀,、音頻分析儀,、耐壓測試儀、直流電源,、地線導(dǎo)通測試儀,、漏電電流測試儀、絕緣測試儀,、LCR電橋,、萬用表、亮度計(jì),、測試探頭等等,。
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
---|
ZEISS/蔡司Sigma 系列產(chǎn)品掃描顯微鏡
結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和高級分析性能,用于顆粒,、表面和納米結(jié)構(gòu)成像,。Sigma 的4步半自動工作流程節(jié)省了大量的工作時(shí)間.
介紹
靈活的探測,4步工作流程,,高級的分析性能
將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒,、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像,。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率,。
Sigma 360 性價(jià)比高,。Sigma 560 裝配的背散射幾何探測器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析,。任何時(shí)間,,任何樣品均可獲得準(zhǔn)確,、可重復(fù)的分析結(jié)果。
ZEISS/蔡司Sigma 系列產(chǎn)品掃描顯微鏡特點(diǎn)
用于清晰成像的靈活探測
利用優(yōu)良探測術(shù)為您的需求定制 Sigma,,表征所有樣品,。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器,,獲取高達(dá)50%的信號圖像,。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對比度的銳利的圖像,。
自動化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能,。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,,先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,,然后設(shè)置成像條件。
首先,,先對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,,然后設(shè)置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動采集圖像,。最后使用工作流程的最后一步,,將結(jié)果可視化。
高級分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 背散射幾何探測器大大提升了分析性能,,特別是對電子束敏感的樣品,。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,,獲取完整且無陰影的分析結(jié)果,。
Gemini光學(xué)元件
基于成熟的 Gemini 技術(shù)
● Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場與磁場對光學(xué)性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低,。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果,。
● Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間,。
● Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪
靈活的探測
用于清晰成像的靈活探測
● 利用新的探測技術(shù)表征所有的樣品,。
● 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。
● 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像,。
● 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像,。
● 利用 BSD4 或者 YAG 探測器進(jìn)行成份分析
可視化及分析軟件
蔡司Atlas 5-挑戰(zhàn)多尺度分析
Atlas 5可以簡化您的工作:以樣本為中心的關(guān)聯(lián)環(huán)境下為您創(chuàng)建多尺度、多模式的綜合圖片,。Atlas 5集強(qiáng)大的硬件和易于操作的軟件為一體,,大大拓展了蔡司掃描電鏡(SEM)的應(yīng)用范圍。
可視化及分析軟件
蔡司推薦您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro
此解決方案可為X射線,,FIB-SEM,,SEM以及氦離子顯微鏡獲取的三維數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化三維重構(gòu)和分析。
基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可視化技術(shù)和優(yōu)異的圖形處理技術(shù),。Dragonfly Pro支持通過簡單易用的Python腳本進(jìn)行定制,。用戶可以掌控3D數(shù)據(jù)后期處理環(huán)境和流程
配件
集成式 EDS 解決方案
在低能量分析應(yīng)用中同時(shí)實(shí)現(xiàn)高清晰度成像
Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案,擁有高可用性和低電壓靈敏度,。僅需使用一臺計(jì)算機(jī)來控制 EDS 和 SEM,,進(jìn)而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時(shí),,借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設(shè)計(jì)的用戶界面可實(shí)現(xiàn)并行控制,。
• 集成化:通過集成化,結(jié)合高清晰成像與快速分析,,從而獲得不錯(cuò)結(jié)果
• 定制化:根據(jù)不同的用戶需求定制軟件
• 靈敏度:氮化硅窗口增強(qiáng)低能X射線的探測靈敏度
拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)
集成化的拉曼成像
獲取樣品中化學(xué)結(jié)構(gòu)的指紋信息:聚焦拉曼光譜成像可擴(kuò)展您的蔡司Sigma 360 掃描電鏡性能,。 分析獲得樣品分子結(jié)構(gòu)和結(jié)晶信息。 通過拉曼成像與EDS數(shù)據(jù)可進(jìn)行3D 分析并與SEM圖像關(guān)聯(lián),。集成化的拉曼成像掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使你充分發(fā)揮SEM和拉曼系統(tǒng)的功能,。