便攜式 光學(xué) 膜厚測(cè)量 FR-pOrtable 測(cè)厚儀

FR-pOrtable是白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),，通過(guò)內(nèi)嵌式微處理器控制,，使用壽命超過(guò)20000小時(shí)。小型光譜儀,，光譜范圍370nm –1020nm,，分辨精度可達(dá)3648像素，16位級(jí)A/D分辨精度,；配有USB通訊接口,；可對(duì)透明和半透明的單個(gè)薄膜或薄膜疊層進(jìn)行精確，精確的

無(wú)損表征,。FR-pOrtable的緊湊設(shè)計(jì)保證了測(cè)量的高度準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,。FR-pOrtable既可以安裝在提供的平臺(tái)上，也可以輕松轉(zhuǎn)換為手持式厚度測(cè)量工具,，以放置在表征區(qū)域上,。這樣，F(xiàn)R-pOrtable是用于現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用的光學(xué)表征工具,?？梢詼y(cè)量反射率，透射率,，吸收率和顏色參數(shù),。

FR-Monitor膜厚測(cè)試軟件系統(tǒng)，可精確計(jì)算如下參數(shù)：

1）單一或堆積膜層的厚度,；

2）靜態(tài)或動(dòng)態(tài)模式下,，單一膜層的折射率；本軟件包含了類型豐富的材料折射率數(shù)據(jù)庫(kù),，可以有效地協(xié)助用戶進(jìn)行線下或者在線測(cè)試分析,。本系統(tǒng)可支持吸收率，透射率和反射率的測(cè)量,，還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜,，一次使用，即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測(cè)試后的結(jié)果分析使用。

參考樣片：

1）經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的反射標(biāo)準(zhǔn)硅片,；

2）經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的帶有SiO2/Si 特征區(qū)域的樣片,；

3）經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的帶有Si3N4/SiO2/Si特征區(qū)域的樣片；

4）反射探針臺(tái)和樣片夾具：

可處理的樣品尺寸達(dá)200mm, 包含不規(guī)則的尺寸等,；

手動(dòng)調(diào)節(jié)可測(cè)量高度可達(dá)50mm,；

可針對(duì)更大尺寸訂制樣片夾具；

反射率測(cè)量的光學(xué)探針：

內(nèi)嵌系統(tǒng)6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm,；

附件：

FR-portable透射率測(cè)量套件,；