澤攸ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡,，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化

產(chǎn)品介紹

澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器,、1000N原位拉伸樣品臺,，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。

原位拉伸臺參數(shù)

載荷范圍：0-1000N

位移分辨率：20nm

加熱模塊：可選

加載功能：拉伸,、壓縮,、三點(diǎn)彎曲

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無須對中光闌等復(fù)雜步驟,；

亮度/對比度一鍵自適應(yīng),，自動/手動聚焦;

抽真空時(shí)間小于90秒；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航,，搭配多樣品臺,，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

信號采集帶寬10M,，掃描速度快,；

視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，操作流暢,，無卡頓,；

四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器,；

BSE+SE 模式（任意比列混合）,、集成EDS元素分析功能；

國內(nèi)生產(chǎn),、銷售,、售后一體化服務(wù)；

北京,、上海,、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示,；

應(yīng)用案例

藥物檢測           生物檢測

半導(dǎo)體檢測       電池檢測