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ECV測試電化學(xué)cv測試儀

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公司成立于2021年,,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測分析設(shè)備制造商,。公司集研發(fā),、設(shè)計(jì),、制造、銷售于一體,,主要攻克國外壟斷技術(shù),,替代進(jìn)口產(chǎn)品,使半導(dǎo)體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化,。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀,、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀,、硅片電阻率測試儀,、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀,、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀,、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,,晶圓,、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV,、汞CV,、ECV。碳化硅,、硅片,、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案,。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),,申請各項(xiàng)知識產(chǎn)權(quán)20余項(xiàng),已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認(rèn)可,,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,,硅片電阻率測試儀,,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,,遷移率測試儀,,少子壽命測試儀

電化學(xué)EC-V剖面濃度測試儀可高效、準(zhǔn)確的測量半導(dǎo)體材料(結(jié)構(gòu),,層)中的摻雜濃度分布,。選用合適的電解液與材料接觸、腐蝕,,從而得到材料的摻雜濃度分布,。電容值電壓掃描和腐蝕過程由軟件全自動(dòng)控制,。
電化學(xué)ECV剖面濃度測試儀主要用于半導(dǎo)體材料的研究及開發(fā),其原理是使用電化學(xué)電容-電壓法來測量半導(dǎo)體材料的摻雜濃度分布,。電化學(xué)ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或發(fā)展半導(dǎo)體光-電化學(xué)濕法蝕刻(PEC Etching)很好的選擇,。CVP21電化學(xué)C-V剖面濃度測量儀適用于評估和控制在半導(dǎo)體生產(chǎn)中的外延過程并且以被使用在多種不同的材料上,例如:硅,、鍺、III-V族化合物半導(dǎo)體(如GaN),。

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