HJS 全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀
- 公司名稱 吉林省華博科技工業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) HJS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/21 9:33:19
- 訪問次數(shù) 1105
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熔融指數(shù)儀,電子萬能試驗(yàn)機(jī),耐電壓擊穿|擺錘沖擊|高分子材料萬能試驗(yàn)機(jī),熱變形維卡軟化點(diǎn)測定儀-吉林省華博科技工業(yè)有限公司 www.huayangyq.cn
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子,汽車,電氣 |
全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品用途 Product Usage
全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀,、測試裝置,,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試,。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求,。
全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz~1Mhz 2Mhz 5Mhz, 三種選項(xiàng)它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀中測試裝置是由平板電容器組成,,平板電容器一般用來夾被測樣品,,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)可以直接不用人工計(jì)算得到。
概述
HJS-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀,,體積小,,緊湊便攜,便于上架使用,。本系列儀器基本精度為0.05%,,測試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,,操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能,、平衡測試功能,提高了測試效率,。儀器提供了豐富的接口,能滿足自動(dòng)分選測試,,數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求,。
固體執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) GB/T 1409-2006(測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法) ) 液體
優(yōu)勢特點(diǎn)Advantages and Characteristics
1,、可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計(jì)算
2、可測試電阻
3,、 4.3寸TFT液晶顯示
4,、 中英文可選操作界面
5、 最高5MHz的測試頻率
6,、平衡測試功能
7,、 變壓器參數(shù)測試功能
8、 最高測試速度:13ms/次
9,、 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能
10,、 V、I 測試信號(hào)電平監(jiān)視功能
11,、 內(nèi)部自帶直流偏置源
12,、 可外接大電流直流偏置源
13、 10點(diǎn)列表掃描測試功能
14,、 30Ω,、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻
15,、 內(nèi)建比較器,,10檔分選和計(jì)數(shù)功能
16、 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保存
17,、 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤
18,、 RS232C、 USB 、LAN,、HANDLER,、GPIB、DCI接口
19,、 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。
20,、 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1~105
ε 和 D性能: | |
固體絕緣材料測試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測試,。 | |
ε和D測量范圍 | ε:1~105,D:0.1~0.00005,, |
ε和D測量精度(10kHz) | ε:±2% ,, D:±5%±0.0001 |
測試參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
測試頻率 | 20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn) |
測試信號(hào)電 | f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
顯示范圍 | L 0.0001 uH ~ 9.9999kH C :0.0001 pF ~ 9.9999F R,X,Z,DCR : 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S D : 0.0001 ~ 9.9999 Q : 0.0001 ~ 99999 θ : -179.99°~ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) |
中速 | 25次/s, 慢速: 5次/s |
校準(zhǔn)功能 | 開路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零,,負(fù)載校準(zhǔn) |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 |
量程方式 | 自動(dòng), 保持 |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線 |
內(nèi)部直流偏 | 電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式(內(nèi)阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計(jì)數(shù)功能 |
顯示器 | 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 |
存儲(chǔ)器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件) |
工作頻率范圍 | 20Hz~2MHz 數(shù)字合成,, |
精度 | ±0.02% |
電容測量范圍 | 0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001~9.99999 六位數(shù)顯 |
介電常數(shù)測試裝置(含保護(hù)電極) | 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極,能對(duì)直徑φ10~56mm,,厚度<10mm的試樣精確測量,。 |
它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,,以適應(yīng)軟材料,,表面不平整和薄膜試樣測試。 | |
微分頭分辨率 | 10μm |
最高耐壓 | ±42Vp(AC+DC) |
電纜長度設(shè)置 | 1m |
最高使用頻率 | 5MHz |
電極示意圖(Electrode schematic diagram)
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置Equipment standard configuration
試驗(yàn)主機(jī) 一臺(tái)
試驗(yàn)電極 一套
數(shù)據(jù)連接線 一條
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份