FPTOH-4PP 四探針方塊電阻測量儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 孚光精儀
- 型號 FPTOH-4PP
- 產(chǎn)地 www.felles.cn/sitanzhen.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/9/11 14:17:13
- 訪問次數(shù) 197
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 數(shù)字式電阻測試儀 |
---|---|---|---|
應用領域 | 能源,電子,綜合 |
四探針方塊電阻測量儀是為Sheet Resistivity薄層電阻率測量設計的四點探針電阻測量儀器,滿足各種材料的薄層電阻率測量,包括IV族半導體、金屬和化合物半導體,,以及平板顯示器和硬盤中發(fā)現(xiàn)的新材料,。
四探針方塊電阻測量儀使用兩個電流供應和兩個電壓傳感探針,在各種材料上提供高度準確和可重復的薄層電阻率和厚度測量,。該四探針方塊電阻測量儀具有用戶友*的“一鍵式”操作和自動校準功能,。能夠在90秒內(nèi)測量50個位置,測量范圍從1mΩ/sq到800kΩ/sq,,***高可達8E11Ω/sq,。
應用
P/N型式試驗,硅襯底,,Epi層,,SOI,離子注入劑量和均勻性,,多晶硅電阻率和厚度,,金屬沉積監(jiān)測儀,硅化物工藝監(jiān)測器,,離子注入擴散,,Poly gate過程監(jiān)控器,ITO,,金屬,,多晶硅、a-Si
四探針方塊電阻測量儀規(guī)格參數(shù)
適用晶片尺寸:50,、75,、100、125,、200 mm
測試直徑:距離晶圓邊緣不超過3mm
測量范圍:1mΩ/sq,。至800kΩ/平方?;?E9Ω/平方,。
測量單位:Ω/平方。,,Ω-cm,,V/I,μ[T],,?[T]
測量重復精度:<0.2%(典型)
快速檢查:1,、5、9個站點|5,、6,、9,、10、13個站點ASTM/SEMI|X-圖案或自定義站點
笛卡爾映射:任何站點間隔≥0.1 mm,,***多6000個站點
電子精度:<0.1%(精密電阻器)
當前分辨率:16位A/D
測量符合電壓:125V
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四探針方塊電阻測量儀使用兩個電流供應和兩個電壓傳感探針,在各種材料上提供高度準確和可重復的薄層電阻率和厚度測量,。該四探針方塊電阻測量儀具有用戶友*的“一鍵式”操作和自動校準功能,。能夠在90秒內(nèi)測量50個位置,測量范圍從1mΩ/sq到800kΩ/sq,,***高可達8E11Ω/sq,。
應用
P/N型式試驗,硅襯底,,Epi層,,SOI,離子注入劑量和均勻性,,多晶硅電阻率和厚度,,金屬沉積監(jiān)測儀,硅化物工藝監(jiān)測器,,離子注入擴散,,Poly gate過程監(jiān)控器,ITO,,金屬,,多晶硅、a-Si
四探針方塊電阻測量儀規(guī)格參數(shù)
適用晶片尺寸:50,、75,、100、125,、200 mm
測試直徑:距離晶圓邊緣不超過3mm
測量范圍:1mΩ/sq,。至800kΩ/平方?;?E9Ω/平方,。
測量單位:Ω/平方。,,Ω-cm,,V/I,μ[T],,?[T]
測量重復精度:<0.2%(典型)
快速檢查:1,、5、9個站點|5,、6,、9,、10、13個站點ASTM/SEMI|X-圖案或自定義站點
笛卡爾映射:任何站點間隔≥0.1 mm,,***多6000個站點
電子精度:<0.1%(精密電阻器)
當前分辨率:16位A/D
測量符合電壓:125V
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