X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020

應用原理：

覆蓋層單位面積質量

(底材需為已知,，覆蓋層線性厚度）

和二次輻射強度之間存在一定的關系。對于任何實際的儀器系統(tǒng)

該關系首先已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定,。

若覆蓋層材料的密度已知,，同時又給出實際的密度

則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。

熒光強度是元素原子序數(shù)的函數(shù),，如果表面覆蓋層,、中間覆蓋層

如果存在）以及基體是由不同元素組成或一個覆蓋層由不止一個元素組成

則這些元素會產(chǎn)生各自的輻射特征,。

可調節(jié)適當?shù)臋z測器系統(tǒng)以選擇一個或多個能譜，

使此設備既能測量表面覆蓋層又能同時測量表面覆蓋層

和一些中間覆蓋層的厚度和組成,。

X熒光鍍層測厚儀測試報告：包括下列內(nèi)容：

1.本標準的編號,；

2.試樣的準確標識；

3.測量日期,；

4.試樣上測量位置,；

5.平均每份報告的測量次數(shù)；

6.尺寸不同,，要標明準直器孔徑和測量面積大?。?/span>

7.測量數(shù)值,；

8. 用于X熒光厚度計算的密度值及使用理由,；

9.報告的測量值具有代表性的標準偏差；

10.與本標準方法的差別:

11.可能影響報告結果解釋的因素:

12.實驗室名稱和操作者姓名,；

13.近期的校準證書或其他可接受的參考標準塊的使用及溯源,。

韓國MicroP XRF-2020膜厚儀

XRF-2020測厚儀X-RAY膜厚儀原理應用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架半導體連接器等電鍍層厚度,。

測量鍍金,、鍍鋅、鍍鈀,、鍍鉻,、鍍銅、鍍銀,、鍍錫,、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

X-RAY膜厚測量儀X射線鍍層測厚儀應用

可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.03-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um

X-RAY膜厚儀工作原理XRF-2020:快速無損檢測

X熒光無損快速測量