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SIRM紅外體微缺陷分析儀
- 公司名稱 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 波銘科儀
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/23 13:07:39
- 訪問次數(shù) 432
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光學(xué)測試系統(tǒng),;光源/激光器,;光譜儀;光電探測器,;電子數(shù)據(jù)采集器,;光學(xué)平臺(tái);電動(dòng)位移臺(tái),;手動(dòng)位移臺(tái),;調(diào)整架;光學(xué)元件
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
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Capability:
無需制樣
最小測試缺陷尺寸10nm
測試缺陷濃度范圍:105-109cm-3
可做外延片測試
測試樣品最大尺寸300mm
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng),、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái),、激光器,、Edmund 光學(xué)元件,、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器,、卓立漢光熒光拉曼光譜儀,、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀,、鑫圖科研級(jí)相機(jī),、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位,。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國,。我們將繼續(xù)努力,,不斷提升市場地位和影響力。