日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀這是一款小型,、低成本的膜厚計(jì),，采用高精度光學(xué)干涉法測量膜厚，操作簡單,。
我們采用一體式外殼,，將必要的設(shè)備存儲(chǔ)在主體內(nèi)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集,。
盡管價(jià)格低廉,，但也可以通過獲得絕對(duì)反射率來分析光學(xué)常數(shù)。

日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀產(chǎn)品信息：

• 緊湊,、低成本,、易于操作的膜厚測量。

• 通過選擇光譜儀和光源可以選擇測量膜厚范圍,。

• 簡單的條件設(shè)定和測量操作,，任何人都可以輕松測量。

• 配備實(shí)時(shí)監(jiān)控功能,、模擬功能等,。

• 測量光斑直徑φ3mm（標(biāo)準(zhǔn)），支持從3nm到35μm的薄膜到厚膜的廣泛測量,。

• 絕對(duì)反射率測量

• 膜厚分析（10層）

• 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率,，k：消光系數(shù)）

• 功能膜、塑料
  透明導(dǎo)電膜（ITO,、銀納米線）,、相位差膜、偏光膜,、AR膜,、PET、PEN、TAC,、PP,、PC、PE,、PVA,、粘合劑、粘合劑,、保護(hù)膜,、硬涂層、防指紋代理等,。

• 半導(dǎo)體
  化合物半導(dǎo)體,、Si、氧化膜,、氮化膜,、抗蝕劑、SiC,、GaAs,、GaN、InP,、InGaAs,、SOI、藍(lán)寶石等,。

• 表面處理
  DLC涂層,、防銹劑、防霧劑等,。

• 光學(xué)材料
  濾光片,、增透膜等。

• FPD
  LCD（CF,、ITO,、LC、PI）,、OLED（有機(jī)薄膜,、封裝材料）等。

• 其他
  硬盤,、磁帶,、建筑材料等。