塑料材料介電常數(shù)測試儀

塑料材料介電常數(shù)測試儀

1.玻璃的損耗

1）復(fù)雜玻璃中的介質(zhì)損耗主要包括三個部分：電導(dǎo)耗,、松弛損耗和結(jié)構(gòu)損耗,。哪一種損耗占優(yōu)勢，取決于外界因素溫度和電場頻率,。

2）高頻和高溫下，電導(dǎo)損耗占優(yōu)勢：在高頻下,，主要的是由弱聯(lián)系離子在有限范圍內(nèi)移動造成的松弛損耗

3）在高頻和低溫下，主要是結(jié)構(gòu)損耗,，其損耗機(jī)理目前還不清楚,，可能與結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān),。

4）簡單玻璃的損耗是很小的,，這是因為簡單玻璃中的“分子”接近規(guī)則的排列,，結(jié)構(gòu)緊密，沒有弱聯(lián)系的松弛離子,。

5）在純玻璃中加人堿金屬化物后,。介質(zhì)損耗大大增加，并且隨著加人量的增大按指數(shù)規(guī)律增大,。這是因為堿性氧化物進(jìn)人玻璃的點陣結(jié)構(gòu)后,，使離子所在處點陣受到破壞,，結(jié)構(gòu)變得松散,，離子活動性增大,，造成電導(dǎo)損耗和松弛損耗增加,。

2.陶瓷材料的損耗

1）陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導(dǎo)損耗,、松弛質(zhì)點的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗,。此外,，表面氣孔吸附水分,、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會引起較大的損耗,。

2）在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中,，介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相,。為了改善某些陶瓷的工藝性能,，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相,，這樣就使損耗增大,。（例如滑石瓷,、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質(zhì)損耗也增大）,。

3）大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大,，主要的原因是：主晶相結(jié)構(gòu)松散,，生成了缺固濟(jì)體、多品型轉(zhuǎn)變等,。

3.高分子材料的損耗

1）高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類,。

2）偶極矩在0~0.5D（德拜）范圍內(nèi)的是非極性高聚物；偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。

3）非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,，其介電常數(shù)約為2,，介質(zhì)損耗小于10-4

4）極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,，并且極性愈大,，這兩個值愈高,。

4.儀器的功能介紹：

1）批量試驗：對相同參數(shù)的試樣,，一次設(shè)定后可順次完成一批試驗

2）自動換檔：根據(jù)試驗力大小自動切換到適當(dāng)?shù)牧砍?，以確保測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性

3）條件模塊：試驗條件和試樣原始數(shù)據(jù)可以建立自己的標(biāo)準(zhǔn)模塊的形式存儲,；方便用戶的調(diào)用和查看,，節(jié)省試驗時間

4）自動停機(jī)：試樣破壞后,，移動橫梁自動停止移動（或自動返回初始位置、

5）自動變速：試驗過程的位移速度或加載速度可按預(yù)先編制,、設(shè)定的程序自動完成也可手動改變

6）顯示方式：數(shù)據(jù)與曲線隨試驗過程動態(tài)顯示

7）測試過程：試驗過程及測量,、顯示,、分析等均由微機(jī)完成

8）自動保存：試驗結(jié)束，試驗數(shù)據(jù)和曲線計算機(jī)自動保存,，杜絕因忘記存盤而引起的數(shù)據(jù)丟失

9）試驗軟件：中文Windows用戶界面,，操作簡便

10）自動程制：根據(jù)試驗要求,，用戶可方便的建立自己的試驗?zāi)０濉?/span>