BiasHAST高加速老化試驗箱

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體,，微電子芯片,，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫,、不飽和/飽和濕熱,、等加速壽命信賴性試驗,，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能,。

BiasHAST高加速老化試驗箱

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定）給被測元件施加一定的偏置電壓,。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流，電壓,，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,，當被測材料實時漏電流超出設(shè)定時，自動切斷被測材料的電壓,，可以保護被測元件不被進一步燒毀,。

高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流,，電壓,，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當被測材料實時漏電流超出設(shè)定時,，自動切斷被測材料的電壓,，可以保護被測元件不被進一步燒毀。

特點：

每顆器件的Vgs獨立控制

實時監(jiān)測每個試驗器件的Id,、Ig

控制上,、下電時序

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中，可輸出Excel

試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

漏電流超限保護,，自動切斷測量回路

應(yīng)用：

二極管,，三極管,，MOSFET，IGBT,，SBD,，GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 ,。