HAST立式老化測試非飽和老化實驗機

HAST立式老化測試非飽和老化實驗機主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度,、壓力的各種條件來完成的,，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

HAST立式老化測試非飽和老化實驗機

HAST設(shè)備特點

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范,；

多重保護功能：各種超壓超溫,、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；

穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法,，確保溫度,、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定,；

智能化高：支持電腦連接,，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存,。

HAST立式老化測試非飽和老化實驗機

HAST立式老化測試非飽和老化實驗機,，用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，

對芯片,、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗,。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board,、電池,、電容、電阻,、IC 半導(dǎo)體,、連接器、線路板,、磁性材料,、高分子材料、EVA,、光伏組件,、車規(guī)級芯片。