晶片尺寸 D 或 a ×b

探頭晶片的直徑D或長(zhǎng)度×寬度a ×b ,。它的尺寸大小對(duì)聲波的傳輸有極大的影響 ,。輕微的偏差，如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減,，即使是利用參考缺陷進(jìn)行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評(píng)估誤差,。

標(biāo)稱(chēng)頻率f

所有相同類(lèi)型探頭的均值頻率，頻率對(duì)反射體的評(píng)定有大的影響 ,。對(duì)斜反射體,，頻率甚至影響聲場(chǎng) 波形和反射特性 。隨著頻率的增加,，非垂直反射體對(duì)聲束的反射回波減小 ,。這就是為什么每一個(gè)探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門(mén)根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè)，以確定其頻率是否與標(biāo)稱(chēng)頻率相一致,，保證在一定的誤差范圍內(nèi),。這個(gè)數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。

帶寬B

脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍,。

fo=幅值下降6dB的上限頻率,，fu=幅值下降6dB的下限頻率，f為標(biāo)稱(chēng)頻率,。 例如,，當(dāng)B=100%， 一個(gè)4 MHz的探頭的fo為6 MHz,，而fu為2 MHz,。

大的帶寬意味著更短的脈沖回波，也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力,， 因?yàn)榈皖l脈沖比標(biāo)稱(chēng)頻 率脈沖的衰減小 ,。在高衰減情形下，與標(biāo)稱(chēng)頻率相比,，隨著距離的增加,，反射信號(hào)的頻率減小 。這一 點(diǎn)在進(jìn)行缺陷評(píng)估時(shí)必須要加以考慮 ,。因此每一個(gè)探頭的帶寬都要進(jìn)行檢查,，并且與所有探頭的平均值相一致，保證在一定的誤差范圍內(nèi),。

焦距F

F ：小缺陷產(chǎn)生蕞大回波時(shí)探頭到小缺陷的距離。探頭要進(jìn)行聚焦以便探測(cè)小缺陷并得到蕞大的回波幅值,，只有在探頭的近場(chǎng)才可能聚焦,。

近場(chǎng)長(zhǎng)度N

近場(chǎng)長(zhǎng)度N是非聚焦探頭的焦距長(zhǎng)度，它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠(yuǎn)距離 ,。N的大小由D ,、c 和f來(lái)決定 ,。

其中λ為波長(zhǎng)，c為聲速,， Deff是單元有效直徑

焦點(diǎn)處和近場(chǎng)長(zhǎng)度處聲能最為集中,，反射體最易識(shí)別。因此重要測(cè)試場(chǎng)合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度處,。表中的數(shù)據(jù)對(duì)鋼材而言,，而水浸探頭為水。

焦點(diǎn)直徑FD6

在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度附近,，聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 ,。

脈沖形狀

來(lái)自于平面反射面的信號(hào)表述。

頻譜

回波脈沖中所有頻率的顯示,，頻率幅值在頻率上顯示,。

聲束角度 β

主聲束與檢測(cè)面法線之間的夾角