聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
- 公司名稱 上海元恒國(guó)際貿(mào)易有限公司
- 品牌 聚創(chuàng)環(huán)保
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/6/13 14:28:42
- 訪問次數(shù) 586
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“鉑金埃爾默空心陰極燈”,,“德國(guó)MN硝酸鹽試紙”,,“梅特勒pH4.01緩沖液”,“雷磁便攜式電導(dǎo)率儀”,,“溶解氧測(cè)量?jī)x”
分析含量范圍 | 0.07ppm~99.9% | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-30萬 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 1~45KeVeV | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,農(nóng)業(yè),地礦 |
元素分析范圍 | Na-U | 重復(fù)性 | 0.1 |
聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X
一,、產(chǎn)品介紹
能量色散X熒光分析儀利用EDXRF技術(shù),采用X光管產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品,,先進(jìn)的SDD探測(cè)器探測(cè)元素特征X射線,,2048道數(shù)字化全譜分析,可以分析包括輕元素在內(nèi)幾十種元素,,具有分析速度快,、分析精度高、分析范圍廣,、穩(wěn)定性好,、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
在銅合金等金屬制造行業(yè)中,,材料,、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC,,該儀器是質(zhì)量體系中材料確認(rèn),、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的常備儀器,。生產(chǎn)者可以控制合金中的元素各成分含量,,提高產(chǎn)品性能、減少次品和廢品,,提高經(jīng)濟(jì)效益,。
二、主要用途
主要用于銅合金,、鋁合金,、鋅合金、鑄鐵等原材料檢驗(yàn),,冶煉生產(chǎn)過程成分控制,,成品元素成分定值,爐前合金的快速分析和成品分析,。
三,、性能特點(diǎn)
☆.采用了美國(guó)新型的電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測(cè)器,,具有高分辨率(125eV)和高探測(cè)效率;
☆.采用高真空度測(cè)樣裝置,消除了空氣對(duì)低能X射線的阻擋,,滿足RoHS或合金檢測(cè)時(shí)對(duì)輕元素的準(zhǔn)確分析,;
☆.采用大功率的正高壓X光管和高壓發(fā)生器,提高了對(duì)輕重元素的檢測(cè)下限,,實(shí)現(xiàn)了對(duì)多種元素的同時(shí)快速檢測(cè)分析,;
☆.自動(dòng)開蓋,無限平臺(tái)的設(shè)計(jì)適應(yīng)多種不同大小規(guī)格樣品的檢測(cè),,可以測(cè)量固體,、 液體、粉末樣品,;
☆.內(nèi)置彩色CCD攝像頭,,使用戶可以精確定位檢測(cè)區(qū)域及時(shí)記錄所測(cè)樣品圖像信息;
☆.一體化的設(shè)計(jì),,使得儀器的性能穩(wěn)定可靠,、故障率低;
☆.采用USB-CAN適配器與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信,,使用方便,;
☆.自動(dòng)切換的濾片裝置有效的降低了光管的散射本底,提高了儀器測(cè)量的峰谷比和分辨率,,使得重元素和微量元素的測(cè)量更準(zhǔn)確,;
☆.先進(jìn)的全數(shù)字化多道譜儀讓儀器測(cè)量時(shí)的數(shù)據(jù)采集和處理更加快速準(zhǔn)確,極大的提高了儀器的穩(wěn)定性和抗干擾的能力,;
☆.自帶數(shù)據(jù)庫(kù)管理系統(tǒng)的全中文測(cè)量軟件讓儀器的測(cè)量更加方便,,操作更加簡(jiǎn)單;
☆.多重安全的防護(hù)設(shè)計(jì),,使儀器的整機(jī)輻射符合國(guó)家輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn),,讓用戶用的放心。
四,、技術(shù)指標(biāo)
1.分析元素范圍:Na-U
銅合金:Cu,、Ag、Sn,、Ni,、Fe、Si,、Zn,、S、Cd、Pb,、Cr,、Zr、Mg,、Co,、Mn,、Sb,、Al、As ,、P,、Se、Te等,;
鑄鐵:Ti,、As、Si,、P,、Al、Cu,、Sb,、Nb、Ni,、Mo,、Mn、Cr,、V,、Mg等;
不銹鋼:Mn,、Mo,、Ni、Cu,、Cr,、P、S,、Si,、V、W,、Ti,、Pb、Alt、Co,、Nb,、Sn、As,、Sb,、Bi、Zn等,;
2.元素含量分析范圍:0.07ppm~99.9%,;
3.探測(cè)器:電致冷硅漂移SDD半導(dǎo)體探測(cè)器(分辨率優(yōu)于139eV);
4.測(cè)量范圍:1~45KeV;
6.高壓:5kV~50kV,;
7.管流:5μA~1000μA,;
8.整機(jī)額定功率:50W;
9.CDD攝像頭分辨率:500萬像素,;
10.真空泵額定功率:550W,;
11.10秒鐘真空度可達(dá)10-2Pa (高真空區(qū)域10-1~10-5Pa);
12.檢測(cè)時(shí)間:120s~300s(時(shí)間隨樣品不同可調(diào)整);
13.儀器重量:65Kg;
14.儀器尺寸:720(W)X440(D)X435(H)mm
聚創(chuàng) EDXRF技術(shù)金屬元素X熒光分析儀JC-350X