產(chǎn)品描述

SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU,、CPU,、CPLD、FPGA,、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試,，將老化與電參數(shù)測試結(jié)合,，在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。

基本特點(diǎn):

• 1. 老化測試系統(tǒng)單板128路雙向I/O通道,，共用8個(gè)時(shí)鐘邊沿（6個(gè)驅(qū)動邊沿,，2個(gè)比較邊沿）

• 2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲深度1kbit/通道,，只存失效

• 3. 支持圖形向量微指令

• 4. 單板4通道PMU,，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V,；電流范圍-80mA~+80mA

• 5. 數(shù)字通道驅(qū)動電壓范圍-3V~+12V,；比較電壓范圍-3V~+12V

• 6. 數(shù)量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等

• 7. 提供各老化試驗(yàn)區(qū)電壓,、電流測試

• 8. 128個(gè)輸出控制繼電器

• 9. 試驗(yàn)溫度范圍：5℃～150℃,；溫度均勻度±3℃

• 10.RJ45網(wǎng)口數(shù)據(jù)傳輸與控制

• 11.高溫老化試驗(yàn)箱分16個(gè)區(qū)域，支持同時(shí)老化測試16種不同類型,、不同封裝形式的器件

• 12.系統(tǒng)提供電源過壓,、過流和短路保護(hù)