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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>質(zhì)譜>二次離子質(zhì)譜>SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)

SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 那諾中國有限公司
  • 品牌 KORE
  • 型號 SurfaceSeer S
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/8/15 11:38:21
  • 訪問次數(shù) 2189

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


時間:
創(chuàng)新:
2024-08-14
SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+離子束(可選惰 性氣體Ar+),,該離子束是脈沖式的,以最大限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷,。 在每100µs TOF 循環(huán)中,,該離子槍的脈沖時間僅為60ns,因此,,主光束提供的電流比連續(xù)打開時少1000倍以上。


那諾中國有限公司專注于為大中華區(qū)域(包括中國大陸,、香港,、澳門和中國臺灣)的高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)等企業(yè)機(jī)構(gòu)提供高性能,、高性價比,、定制化的薄膜工藝加工設(shè)備及科學(xué)分析檢測儀器。


那諾中國提供美國那諾-馬斯特薄膜工藝加工設(shè)備(包含磁控濺射,、熱蒸鍍,、電子束、PECVD,、ALD,、PA-MOCVD、RIE,、離子束,、DRIE、晶圓兆聲清洗機(jī)等),。


那諾中國提供英國KORE基于飛行時間的質(zhì)譜儀,,包含飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)、質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)(PTR)質(zhì)譜儀,、電子轟擊電離(EI)質(zhì)譜儀等,。





ALD,PECVD,,RIE,,磁控濺射,熱蒸鍍,,電子束,,離子束,晶圓清洗機(jī),,PA-MOCVD,,飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)

價格區(qū)間 面議 儀器種類 飛行時間
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,電子,綜合 原始束流或速能量 5kV
質(zhì)量分辨率 >2500m/δm (FWHM) 質(zhì)量分析范圍 ~10000U

Kore SurfaceSeer S在飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 (TOF-SIMS) 系列中,是一款高性價比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品,。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇,,適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。


飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)是非常靈敏的表面分析手段,。其憑借質(zhì)譜分析,、二維成像分析、深度元素分析等功能,,廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué),、細(xì)胞學(xué)、地質(zhì)礦物學(xué),、半導(dǎo)體,、微電子、物理學(xué)、材料化學(xué),、納米科學(xué),、礦物學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域,。




Kore SurfaceSeer S型號的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)使用的是5keV Cs+離子束(可選惰 性氣體Ar+),,該離子束是脈沖式的,以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷,。 在每100µs TOF 循環(huán)中,,該離子槍的脈沖時間僅為60ns,因此,,主光束提供的電流比連續(xù)打開時少1000倍以上,。典型的10s實驗時間所產(chǎn)生的電流僅相當(dāng)于幾毫秒的連續(xù)光束電流。 要達(dá)到所謂的“靜態(tài)SIMS”極限,,需要在一個點上進(jìn)行幾分鐘的分析,,在這個點上,表面損傷在數(shù)據(jù)中變得清晰可見(取決于焦點和光 束電流),。盡管離子劑量較低,,這款TOF分析儀還是非常高效的,這就說明了它具有較高的二次離子數(shù)據(jù)速率(即使在離子產(chǎn)率相對較低 的聚合物上,,也通常為5000 c/s),。


SurfaceSeer S 儀器特點:

  • 配備5keV Ar+/Cs+脈沖式離子束,以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷,,實現(xiàn)樣品“無損”分析,;

  • 針對工業(yè)領(lǐng)域的低成本TOF-SIMS儀器;

  • 均適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析 ,;

  • 可在1~2min內(nèi)實現(xiàn)高速率的正負(fù)質(zhì)譜分析,;

  • 質(zhì)量分辨率可達(dá) >2,500 m/δm (FWHM);

  • 適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析,。


SurfaceSeerS應(yīng)用領(lǐng)域:

表面化學(xué)

黏附力

分層

印刷適性

表面改性

等離子體處理

痕量分析(表面ppm)

催化劑

同位素分析

表面污染





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