偏振光觀察的新標(biāo)準(zhǔn)

奧林巴斯 BX53-P 偏光顯微鏡采用 UIS2 無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)設(shè)計(jì)，在偏光應(yīng)用中具有出色的性能,。擴(kuò)展的兼容補(bǔ)償器系列使 BX53-P 偏光顯微鏡用途廣泛,，幾乎可以處理任何領(lǐng)域的觀察和測量應(yīng)用。

UIS2 光學(xué)系統(tǒng)提供出色的可擴(kuò)展性

UIS2 光學(xué)系統(tǒng)充分利用了無限遠(yuǎn)校正的優(yōu)勢,，有助于防止光學(xué)顯微鏡性能下降并消除放大因素,，即使將偏振元件（如分析器、色板或補(bǔ)償器）引入光路也是如此,。BX53-P 顯微鏡還接受適用于 BX3 系列顯微鏡以及相機(jī)和成像系統(tǒng)的中間附件,。

石英閃長巖中的斜長石的帶狀結(jié)構(gòu)。 *比例表示樣品的實(shí)際尺寸

MBBA 的光學(xué)結(jié)構(gòu) *尺度表示樣本的實(shí)際尺寸

用于錐光和正交觀察的勃氏透鏡

使用錐光觀察附件,，在正交觀察和錐光觀察之間切換非常簡單,。它可聚焦，以便觀察清晰的后焦平面干涉圖案,。伯特蘭透鏡可聚焦,，以便清晰地觀察后焦平面干涉圖案。視場光闌使始終獲得清晰的錐光圖像成為可能,。

種類繁多的補(bǔ)償器和波片

有六種不同的補(bǔ)償器可用于測量巖石和礦物薄片中的雙折射,。測量延遲水平范圍為 0 至 20λ。為了便于測量并獲得高圖像對比度,，
可以使用 Berek 和 Senarmont 補(bǔ)償器,，它們會改變整個(gè)視野中的延遲水平。

補(bǔ)償器的測量范圍

*R = 延遲級別
為了獲得更準(zhǔn)確的測量結(jié)果,，我們建議將補(bǔ)償器（U-CWE2 除外）與干涉濾光片 45-IF546 一起使用

最小應(yīng)變光學(xué)元件

我們的偏光物鏡將內(nèi)部應(yīng)變降低。這意味著更高的 EF 值,，從而產(chǎn)生出色的圖像對比度,。

堅(jiān)固而精確的旋轉(zhuǎn)臺

旋轉(zhuǎn)臺上安裝的旋轉(zhuǎn)定心機(jī)構(gòu)可使樣品平穩(wěn)旋轉(zhuǎn)。此外,，每 45 度處都有一個(gè)止動機(jī)構(gòu),，可實(shí)現(xiàn)精確測量。使用可選的雙機(jī)械臺,，可以實(shí)現(xiàn)謹(jǐn)慎的 XY 移動,。