超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/5/20 18:46:43
- 訪問次數(shù) 247
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非甲烷總烴在線監(jiān)測儀,,有機(jī)揮發(fā)物氣體監(jiān)測儀,沼氣檢測儀,大氣環(huán)境在線檢測儀,,空氣質(zhì)量指數(shù)檢測儀器,,大氣氣象綜合分析系統(tǒng),林業(yè)大氣環(huán)境檢測儀,,交通環(huán)境大氣污染檢測,,惡臭工作站
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,地礦,制藥/生物制藥 |
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超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2
儀器種類:原子力顯微鏡
產(chǎn)地類別:進(jìn)口
儀器類型:生物型
定位檢測噪聲:X-Y方向傳感器噪音水平RMS < 0.09 nm,Z方向傳感器噪音水平RMS < 0.04 nm
樣品尺寸:超大?140 ×18 mm3自由樣品空間,,使用Head-Up樣品臺樣品高度可達(dá)14cm
樣品臺移動范圍:20×20 mm2
軟件:V7
超快速原子力顯微鏡 NanoWizard® ULTRA Speed 2
630 Hz線速率,、10幀/秒高分辨超快速成像
最高分辨的定量納米力學(xué)成像
與密先進(jìn)光學(xué)顯微鏡的結(jié)合
新一代基于工作流程的軟件革新
靈活易用的模塊化設(shè)計(jì)與大量模塊的拓展性
超快速掃描性能
NanoWizard® ULTRA Speed 2 擁有最新一代Vortis™ 2控制器、頂尖的基于工作流程的用戶界面,、先進(jìn)的掃描器設(shè)計(jì)以及新的工作模式,,從而提供了的高性能和的用戶有好度。新一代超快速原子力顯微鏡結(jié)合了真正原子級分辨率與10幀/秒的超快速掃描速率,。這些技術(shù)突破是JPK BioAFM技術(shù)團(tuán)隊(duì)的技術(shù)專家們不斷強(qiáng)化與創(chuàng)新的結(jié)晶,。
用戶易用性的新高度
JPK的工程師團(tuán)隊(duì)采用了全新的方法開發(fā)了新一代控制軟件。新一代V7控制軟件基于工作流程,,旨在滿足每個用戶的多種需求,。新一代軟件可以更容易的控制復(fù)雜與長期的實(shí)驗(yàn)過程,結(jié)合一整套新開發(fā)的配件與功能,,幫助和加快科學(xué)產(chǎn)出,。
真正原子級分辨率與超高的穩(wěn)定性
NanoWizard® ULTRA Speed 2為滿足高分辨率應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)提供的市面上噪音水平和最高穩(wěn)定性是獲得真正原子級分辨率的關(guān)鍵,。此外,,在超低力下的直接力控制可以防止對樣品和探針的損壞。該系統(tǒng)采用的位置傳感器技術(shù),,可以提供最高的精度和最大的準(zhǔn)確度,。
搭配倒置光學(xué)顯微鏡10幀/秒超快速掃描定義新標(biāo)準(zhǔn)
全新的NanoWizard® ULTRA Speed 2探針掃描技術(shù)可以達(dá)到傳統(tǒng)原子力顯微鏡難以企及的速度水平。實(shí)時,、原位的成像實(shí)驗(yàn)現(xiàn)在可以搭配高分辨先進(jìn)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行,。
采用NestedScannerTM技術(shù)對大起伏褶皺樣品進(jìn)行高速成像
迄今為止,在活細(xì)胞,、大起伏褶皺樣品以及具有陡峭邊緣的樣品進(jìn)行最高時間與空間分辨率的動態(tài)成像實(shí)驗(yàn)一直是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作,。基于全新的NestedScannerTM技術(shù),,在細(xì)胞,、細(xì)菌或其他褶皺樣品的表面可以實(shí)現(xiàn)高速的掃描成像,樣品最大容許起伏可達(dá)8 µm,。
搭配先進(jìn)熒光顯微鏡的AFM同步觸發(fā)與樣品動態(tài)過程實(shí)時觀察
樣品的動力學(xué)變化通常依賴于改變環(huán)境條件來觸發(fā)反應(yīng),。全面的環(huán)境控制解決方案(溫度控制以及氣體或液體交換),,結(jié)合光學(xué)顯微鏡手段,使用戶能夠以的速度進(jìn)行高級AFM實(shí)驗(yàn),。NanoWizard® ULTRA Speed 2刷新了顯微鏡連用方案的標(biāo)準(zhǔn),。
高速掃描的技術(shù)優(yōu)勢
■高分辨觀察樣品實(shí)時的動態(tài)過程
■NestedScannerTM技術(shù)快速掃描褶皺或較高的樣品表面
■AFM與熒光顯微鏡連用實(shí)現(xiàn)原位的多參數(shù)觀察
■極大提高工作效率,快速觀察樣品多個位置