NanoWizard® 4 XP

• 高分辨定量成像性能 

• 高達150 Hz 的快速掃描 

• 力學(xué)與電學(xué)測量的綜合解決方案 

• 靈活、模塊化的系統(tǒng)與大量功能套件 

• 基于工作流程的全新軟件優(yōu)化產(chǎn)出效率

高分辨率,、穩(wěn)定性與準確度

將高分辨率,、快速掃描與100μm大范圍掃描集成于一套系統(tǒng)之中,。全新的 Vortis™ 2控制器帶來了數(shù)據(jù)準確度可以輕松進行海量大數(shù)據(jù)處理,與超分辨率顯微鏡平臺集成,。

快速掃描模式，捕捉樣品動態(tài)

·Nanowizard 4 XP可以實現(xiàn)150Hz的線掃描速度,。Vortis™控制器使具有100μm掃描器的系統(tǒng)仍然具有高的帶寬,、準確的力控制以及高速的反饋響應(yīng)，并與先進快速光學(xué)同步測量無縫整合,。

·允許在大16.5μm的高度變化范圍內(nèi)快速響應(yīng),。

·讓在幾秒內(nèi)獲取活細胞或者單分子的高質(zhì)量數(shù)據(jù)以展示活細胞的天然動態(tài)過程成為可能，給實時動態(tài)實驗帶來速度及準確性,。

全面革新的V7控制軟件

全新基于工作流的軟件設(shè)計加速了科學(xué)產(chǎn)出,基于工作流程和任務(wù)導(dǎo)向的工作界面會組織實驗每個步驟所需的信息,并通過提供智能幫助以及校準與設(shè)置信息的反饋,來引導(dǎo)用戶設(shè)定所需實驗,。

直觀便捷的數(shù)據(jù)獲取方式可以幫助即使有很少AFM使用經(jīng)驗的用戶都可以自信地獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

力譜測量

QI™高級模式基于真實力曲線,為從單分子到活細胞的應(yīng)用提供驚人的速度和分辨率,。定量數(shù)據(jù)允許精確,、快速分析力學(xué)或生化相互作用,先進的批量大數(shù)據(jù)處理功能包含多種模量擬合模型,可通過接觸點成像( Contact Point Imaging,CPI™）顯示零接觸力表面形貌。