表面和界面分析充滿了挑戰(zhàn),，需要一款儀器能夠為后續(xù)的研發(fā)改進提供可靠的結果,。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系統(tǒng)是一款高性能 X 射線光電子能譜儀，在保證數據質量和樣品測試通量的同時,，集成了其他分析技術。

與所有 Thermo Scientific XPS 系統(tǒng)一樣,，Nexsa G2 系統(tǒng)也使用 Avantage 進行儀器控制,、數據處理和報告生成。無論是在專業(yè)的研究實驗室,，還是在多用戶環(huán)境中工作,，Avantage 靈活易用、功能齊全,、操作直觀的特性,，可幫助不同水平的用戶實現樣品分析。

為什么選擇  XScientific Nexsa G2 射線光電子能譜儀?

# 高效的科研級能譜儀

新型微聚焦單色化X射線源可實現以 5 μm 步長的 10 μm 至 400 μm 的 X 射線光斑大小連續(xù)可調,，從而確保將分析束斑調節(jié)至與目標特征匹配,。利用升級的X 射線源、高效的電子透鏡和優(yōu)化的檢測器,，可實現靈敏度和高效的數據采集,。

# 絕緣體分析

Nexsa G2 系統(tǒng)上的一鍵式自動電荷補償系統(tǒng)可輕松實現絕緣樣品分析。雙束中和源避免絕緣樣品發(fā)生荷電,，因為使用極低能量的電子,，大多數情況下將無需進行荷電校正。

# 深度剖析

Nexsa G2 系統(tǒng)配備有標準離子源或 MAGCIS(可選的單粒子和氣體團簇復合型離子源) 進行深度剖析。自動離子源優(yōu)化和氣路控制可確保性能和實驗重現性,。

# 多技術聯(lián)用

使用 Nexsa G2 系統(tǒng),，所有技術將觸手可及，一套系統(tǒng)全面分析您的樣品,。標準配置具備高性能 XPS 所需的所有功能,，ISS、UPS,、REELS,、拉曼等多種分析技術集于一身。升級選項可將系統(tǒng)轉換為完整的分析工作站,，有助于解決材料分析問題,，提高生產效率。

# 特殊樣品臺可選

XScientific Nexsa G2 射線光電子能譜儀增加了多種樣品臺可選,，以滿足科研的特殊應用需求,。特殊可選樣品臺有：NX 加熱臺，用于原位的樣品加熱分析;多觸點偏壓樣品臺,，可實現樣品在真空系統(tǒng)中的施加電壓,，偏壓或循環(huán)電極后的XPS原位分析;惰性氣體轉移腔,，可實現空氣敏感樣品的真空/惰性氣體保護轉移;MCA樣品臺,，用于XPS+SEM的關聯(lián)分析，實現XPS技術和電子顯微技術對樣品的同一個分析區(qū)域采集數據,，并進行比對分析,。