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Huace-DCS10KV 華測(cè)介電儲(chǔ)能材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
- 公司名稱 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測(cè)
- 型號(hào) Huace-DCS10KV
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/14 16:52:56
- 訪問(wèn)次數(shù) 1598
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng),、高低溫介電溫譜測(cè)試儀,、極化裝置與電源,、高壓放大器,、PVDV薄膜極化,、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀,、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái),、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀,、高壓漏電起痕測(cè)試儀,、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng),、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng),。
華測(cè)介電儲(chǔ)能材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
Huace-DCS10KV
華測(cè)介電儲(chǔ)能材料電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,,測(cè)試時(shí),,樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負(fù)載上,,通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,,無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量,,測(cè)試電路如下圖所示,。在該電路中,首先將介電膜充電到給定電壓,,之后通過(guò)閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān),,存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開發(fā),更符合電介質(zhì)充放電原理,。
主要參數(shù):
1,、電流探頭帶寬:120MHz;
2,、峰值電流:0-100A,,150 A(多種電流可監(jiān)測(cè));
3,、電流采集精度:1mA,;
4、高壓源模塊:3KV,,5KV,, 10kV,15KV多可選(電流:0-5mA),;
5,、開關(guān)適用:100萬(wàn)次,,耐壓15kV;
6,、溫控范圍:0-200℃,;
7、溫度穩(wěn)定性和精度:0.1℃,;
8,、測(cè)試樣品:薄膜,厚膜,,陶瓷,,玻璃等;
9,、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試,。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) :
1、本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān),,通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程,,開關(guān)可以承受10kV高壓,寄生電容小,,動(dòng)作時(shí)間短,;
2、電壓10kV,,電流5mA,;
3、可外接高壓放大器或高壓直流電源,;
4,、通過(guò)電流探頭檢測(cè)放電電流,可達(dá)100A,;
5,、可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式,欠阻尼測(cè)試時(shí),,放電回路短路,,不使用電阻負(fù)載,過(guò)阻尼測(cè)試時(shí),,使用較大的高精度無(wú)感電阻作為放電負(fù)載,;
6、可以作為一個(gè)信號(hào)源,,產(chǎn)生任意波形,;
7、通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù),,并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度,;
8,、定制載樣平臺(tái),可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試,;
9,、可以進(jìn)行變溫測(cè)試,RT~200℃,;
10,、可以進(jìn)行疲勞測(cè)試,;
11,、還可用于極化材料之用。
儲(chǔ)能電介電放電行為:
華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來(lái)測(cè)量,。在該電路中,,首先將介電膜充電到給定電壓,之后通過(guò)閉合高速MOS高壓開關(guān),,存儲(chǔ)在電容器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載,。在放電過(guò)程中電壓對(duì)樣品的時(shí)間依賴性可以通過(guò)檢波器進(jìn)行記錄。介電材料的儲(chǔ)能性能通常取決于放電速度,,可通過(guò)改變負(fù)載電阻器的電阻來(lái)調(diào)節(jié),。通常測(cè)試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器。在測(cè)試過(guò)程中,,用戶需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻,,并將電阻器或電阻的組合連接到測(cè)試的電介質(zhì)材料。在該電路中,,選擇高壓MOSFET開關(guān)以釋放儲(chǔ)存的能量非常重要,。該開關(guān)限制電路的最大放電速度和最大充電電壓。本套測(cè)試系統(tǒng)由放電采集電路,、高壓放大器或高壓直流電源和控制計(jì)算機(jī)構(gòu)成,。在測(cè)試中,測(cè)試人員需要通過(guò)選擇合適的電阻來(lái)確定測(cè)量的放電速度,,測(cè)試樣品上的電壓可以由計(jì)算機(jī)自動(dòng)獲得,。