PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,，并可在電學測量的同時,，動態(tài),、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分,、元素價態(tài)進行綜合表征,，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標配的STM-TEM樣品桿上集成光學模塊,，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學表征研究,。

性能指標

透射電鏡指標：

● 兼容電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本,，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）,；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元,；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA,，9個量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA,；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V,，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量,、電流-時間（I-t）測量,，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調范圍：XY方向2.5 mm,，Z方向1.5 mm,；

● 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um,；

● 細調分辨率：XY方向0.4 nm,，Z方向0.04 nm。

光纖指標：

● 光纖外徑250 um,，保證電鏡系統(tǒng)真空指標,；

● 可選光纖探針、平頭光纖,、光纖透鏡,；

● 可選SMA接頭、FC接頭,。

產品特色

（1）采用雙向光纖,，可應用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究,；

（2）光電一體化解決方案,，具有高拓展性；

（3）高穩(wěn)定性,，保證電鏡原有分辨率,；

（4）很長的壽命,；

（5）很低維護成本：設備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材?！弊?球“微動結構已實現(xiàn)模塊化量產,，維護成本低；

（6）很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶,，出口到歐美澳等地。每年,，用戶會產出大量高質量研究成果,。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流,；

（7）成熟的技術支持網絡：在安徽,、北京、東莞和上海擁有分公司,，其他各地擁有若干技術支持網點,，24小時提供技術支持。

部分國內用戶

部分國外用戶