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LSD4 雷射掃描缺陷圖譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 LSD4
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/3/14 11:49:44
  • 訪問次數(shù) 2083

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創(chuàng)建于2009年,,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,,從事科學(xué)儀器的研發(fā)、客制化生產(chǎn)并提供客戶一站式解決方案及服務(wù),。

 

  • R&D 創(chuàng)新研發(fā),、技術(shù)整合、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導(dǎo)體/材料科學(xué)/化學(xué)領(lǐng)域中,,為客戶預(yù)先提供“下一步”解決方案,,幫助客戶實(shí)現(xiàn)在科學(xué)研究、技術(shù)和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的專業(yè)和創(chuàng)新突破,。我們擁有光學(xué)技術(shù),、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)、電子與電控技術(shù)整合,、軟體與資料庫設(shè)計(jì)開發(fā),,根據(jù)產(chǎn)業(yè)動態(tài),、豐富業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn),為客戶提供產(chǎn)品與專案企劃,、咨詢需求到系統(tǒng)運(yùn)營的整合性服務(wù),。成功協(xié)助客戶在半導(dǎo)體材料、太陽能電池,、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell),、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor)、相機(jī)(含手機(jī)相機(jī),、工業(yè)相機(jī)及科學(xué)及相機(jī))等領(lǐng)域的研發(fā)上取得許多重大突破并獲得*成果,。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應(yīng)用服務(wù)

 

擴(kuò)展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應(yīng)用領(lǐng)域、提高轉(zhuǎn)換效率,,是近年前沿研究的主要課題,。近十年,鈣鈦礦太陽能電池光電轉(zhuǎn)換效率的成長紀(jì)錄不斷刷新世界紀(jì)錄,,目前已達(dá)到23.3%,,成為太陽能電池領(lǐng)域的新秀!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩(wěn)定性,、衰減速率快等特性,,成為研究人員面臨的挑戰(zhàn),。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,,提供涵蓋設(shè)計(jì)、研發(fā),、軟體,、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,,讓客戶能有效,、準(zhǔn)確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率,為客戶研究創(chuàng)新帶來優(yōu)勢,。

 

  • 多元產(chǎn)業(yè)應(yīng)用服務(wù)

 

光焱科技將光電檢測技術(shù),,延伸至半導(dǎo)體、材料科學(xué),、LED發(fā)光材料,、航太應(yīng)用及生醫(yī)領(lǐng)域,提供專案研發(fā)和實(shí)驗(yàn)室儀器配套應(yīng)用的制造,、整合,、測試和維護(hù)管理供應(yīng)鏈服務(wù)。服務(wù)亦涵蓋標(biāo)定校正設(shè)備的客制研發(fā),,為科學(xué)研究,、檢測認(rèn)證,、新產(chǎn)品開發(fā)、制造生產(chǎn)提供完整可靠的一站式解決方案,。

技術(shù)與維護(hù)服務(wù)

 

光焱科技自2012年起陸續(xù)在大陸,、日本、美國,、中東及印度建立銷售通路及售后服務(wù)據(jù)點(diǎn),,我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,即時提供合適的解決方案,,協(xié)力科學(xué)研究,、助力產(chǎn)業(yè)升級創(chuàng)新。我們的標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品及專案能依據(jù)客戶需求進(jìn)行調(diào)整和擴(kuò)展,,服務(wù)分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據(jù)客戶需求進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)/產(chǎn)品升級/系統(tǒng)整合等服務(wù),。

 

*One-stop-shop 一站式統(tǒng)合服務(wù):涵蓋多元的廠牌合作服務(wù)。

 

*維護(hù)管理服務(wù):提供維修及產(chǎn)品健檢管理服務(wù),。

 

*快速支援服務(wù):涵蓋售前售后客服支援,、技術(shù)支援、科研支援服務(wù),。

 

QE量子效率測試儀,,3A

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 能源
價格區(qū)間 面議 測量模式 咨詢光焱科技專家

產(chǎn)品介紹


4 分鐘內(nèi)掌握全貌,以 50 微米分辨率掃描 100 毫米 x 100 毫米區(qū)域


  掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流(LBIC)測試的升級版本,。 它利用波長能量大于半導(dǎo)體能隙的激光光束照射半導(dǎo)體,,產(chǎn)生電子-電洞對。 透過快速掃描樣品表面,,獲得揭示內(nèi)部電流變化的影像分布,,以分析各種缺陷分布。 這有助于分析樣品制備的質(zhì)量,,并有助于制程改進(jìn),。

特征


掃描光生電流的分布

掃描光電壓分布

掃描開路電壓和短路電流的分布

分析表面污染

分析短路區(qū)域的 分布

識別和分析微裂紋區(qū)域

分析少數(shù)載子擴(kuò)散長度的分布(選用功能)


應(yīng)用

雷射掃描缺陷圖譜儀

硅太陽能電池光電流分布(405 納米)

雷射掃描缺陷圖譜儀雷射掃描缺陷圖譜儀

6 英寸硅晶太陽能電池掃描(17 秒)

雷射掃描缺陷圖譜儀

鈣鈦礦太陽能電池

雷射掃描缺陷圖譜儀    

LSD4-OPV光響應(yīng)電流分布圖

雷射掃描缺陷圖譜儀

LSD4-OPV光響應(yīng)電流分布圖

雷射掃描缺陷圖譜儀

分辨率為 50 µm 的非均勻性分析


雷射掃描缺陷圖譜儀

母線/柵極縱橫比檢測(橫截面分析)

雷射掃描缺陷圖譜儀

     雷射掃描缺陷圖譜儀            雷射掃描缺陷圖譜儀

高重復(fù)性(6次重復(fù))


規(guī)格

項(xiàng)目參數(shù)說明。
功能A,。利用能量高于半導(dǎo)體帶隙的波長激光束在半導(dǎo)體中產(chǎn)生電子空穴對,,探索耗盡區(qū)對內(nèi)部電流變化的影響,了解和分析各種缺陷分布,,作為工藝改進(jìn)的方向,。

b.能夠掃描樣品表面光生電流的分布。

C,。能夠掃描樣品表面光電壓的分布,。

d.能夠掃描開路電壓和短路電流的分布。

e.能夠分析表面污染,。

F,。能夠分析短路區(qū)域的分布,。

G。能夠識別和分析微裂紋區(qū)域,。

H,。能夠分析少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的分布(可選)。
激勵源
405 ±10nm 激光
520 ±10nm 激光
635 ±10nm 激光
830 ±10nm 激光
掃描區(qū)域≧100mm×100mm
激光光斑尺寸接近TEM00模式點(diǎn)
測繪分辨率
A,。掃描分辨率 ≤ 50 µm
b.掃描分辨率可通過軟件設(shè)置
測繪時間<4分鐘(100mm×100mm,,分辨率50um)
方面60厘米*60厘米*100厘米
軟件A。 LBIC 3D 可視化
b. 2D 橫截面分析(電極縱橫比)
c.光電流響應(yīng)分布分析(與長波長激光源結(jié)合)
d.?dāng)?shù)據(jù)保存和導(dǎo)出功能











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