750118 750119 量產(chǎn)型波前測量儀
- 公司名稱 聯(lián)合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯(lián)合光科
- 型號(hào) 750118 750119
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/4/2 10:01:23
- 訪問次數(shù) 57
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全歐光學(xué)WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡,,非球面透鏡和光學(xué)系統(tǒng)的波前測量,,集成了準(zhǔn)直系統(tǒng),擴(kuò)束或縮束系統(tǒng),,高精度樣品臺(tái),,多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理,,用于平面,、球面、非球面面型的檢測,,光學(xué)系統(tǒng)像差檢測,,輸出激光光束質(zhì)量檢測,光束動(dòng)態(tài)變化檢測,,自適應(yīng)系統(tǒng)波前的探測,,并有針對(duì)大口徑光學(xué)和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠(yuǎn)心鏡頭的全場波前,,還可給出被測樣品的面型(PV和RMS),,澤尼克系數(shù)(Zernike),點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF),,調(diào)制傳遞函數(shù),,斯特列爾比,,楔角。同時(shí),,該產(chǎn)品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測,,晶體低階和高階的相差,晶體的調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF),,晶體的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF),,晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能,,簡單易用,,用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇。
WaveMaster® PRO系列產(chǎn)品是為了適應(yīng)波前質(zhì)量的大批量檢測的需求而研發(fā)的兩款儀器,,可自行設(shè)置合格標(biāo)準(zhǔn),,并根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)判定合格和不合格。WaveMaster® PRO 2和WaveMaster® PRO 2 reflex配備托盤系統(tǒng),,實(shí)現(xiàn)對(duì)單個(gè)小鏡片的大批量檢測。WaveMaster® PRO Wafer則可以對(duì)晶圓級(jí)鏡頭的波前進(jìn)行快速檢測,。
應(yīng)用范圍:
生產(chǎn)線上的大批量鏡頭波前和表面面形的檢測
晶圓級(jí)鏡頭的波前檢測