光學(xué)非接觸式測厚儀
- 公司名稱 聯(lián)合光科技(北京)有限公司
- 品牌 聯(lián)合光科
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/3/29 12:02:42
- 訪問次數(shù) 98
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀利用低相干光干涉測量方法來精確測量厚度,,以寬譜光源作為相干光源,,其相干長度短,只有在測量光和參考光的光程相等時才能產(chǎn)生干涉峰值,,因此具有很好的空間定位特性,,測厚儀內(nèi)置光學(xué)干涉儀,通過計算透鏡前后鏡面頂點對應(yīng)干涉峰之間的距離變化可以得出透鏡的中心厚度,。
LensThick非接觸式光學(xué)測厚儀的操作簡單,,每次可輕松獲得可靠的厚度值。測量數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)字信號處理器計算,,通過USB傳輸?shù)絇C,,再以圖形的形式顯示在用戶界面,可直接讀取每層厚度值,,操作更簡單,、更直觀。
典型應(yīng)用
光學(xué)元件和透鏡組件:測量單個鏡片以及鏡頭組包括空氣間隔
LCD,、LED,、OLED和AMOLED顯示屏:測量總厚度和各層厚度,包括LOCA(液體光學(xué)透明粘合劑)層
拋光玻璃:測量化學(xué)腐蝕前后的厚度或拋光工藝,,使玻璃板更薄,、更輕
半導(dǎo)體:硅/砷化鎵晶片
主要優(yōu)勢
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測量過程 | ![]() |
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測量軟件
光學(xué)測厚儀使用LensThick軟件可實時顯示被測試產(chǎn)品的厚度和干涉信號,以便實時優(yōu)化,。
自動峰值模式:使用操作員創(chuàng)建的樣品設(shè)計文件,,可以定義最多32個反射面(31層)的預(yù)期峰值位置,軟件可自動識別在適合的閾度內(nèi)接近預(yù)期峰值位置的峰值,,從而計算并輸出每層的厚度,。
此外,軟件還帶有判據(jù)功能,,即超出設(shè)計值的公差范圍,,數(shù)據(jù)顯示為紅色。這些功能對質(zhì)量控制是非??焖儆行У?。
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軟件界面 | 測量原理圖 |