晶圓鍍層X射線熒光測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

電鍍行業(yè)、電子通訊,、航天新能源,、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備
汽車制造,、磁性材料、貴金屬電鍍,、高校及科研院所等

晶圓鍍層X射線熒光測厚儀超高硬件配置

采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個元素的特征信號,針對復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,同樣可以輕松測試,。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性,減少儀器故障率,。
高精度自動化的X、Y,、Z軸的三維聯(lián)動,更精準(zhǔn)快速地完成對微小異型(如弧形,、拱形、螺紋,、球面等)測試點的定位。

晶圓鍍層X射線熒光測厚儀設(shè)計亮點

上照式設(shè)計,，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試,。相較傳統(tǒng)光路，信號采集效率提升2倍以上,。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng),，滿足微小產(chǎn)品，臺階,，深槽,，沉孔樣品的測試需求,。可編程自動位移平臺,，微小密集型可多點測試,，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng),。

晶圓鍍層X射線熒光測厚儀軟件界面

人性化的軟件界面,，讓操作變得更加便捷,。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手,。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控,，讓您的使用更加放心。