X-50利用經(jīng)典的“久經(jīng)考驗(yàn)”P(pán)iN二極管技術(shù)及x射線為過(guò)渡和重金屬的基礎(chǔ)分析,。 對(duì)于那些不需要測(cè)量Mg, Al, Si, 或P的公司,，SciAps X-50是zuihao選擇。 我們重新設(shè)計(jì)了這一經(jīng)典的探測(cè)器技術(shù),，并為其配備了更多的功能:內(nèi)置 高分辨率攝像機(jī),，用于查看樣品，如焊縫; 用于照片記錄或2D/3D條形碼讀取和 存儲(chǔ)的宏觀相機(jī); 以及在熟悉的Android平臺(tái)上使用藍(lán)牙/Wi-Fi即時(shí)共享結(jié)果的quan球連接,。

X-50包括xian進(jìn)的X光管技術(shù)與其他SciAps X系列型號(hào)(在40 kV max)進(jìn)行檢測(cè),包括S,、K、Ca,、Ti,、V、Cr,、Mn,、Fe、Co ,、Ni,、Cu、Zn,、As,、Se、Rb,、Sr,、Y、Zr,、Nb,、Mo、Ag,、Cd ,、Sn、Sb,、Ba,、Ta、W,、Hg,、Pb,、Bi、Th,、U,。可以根據(jù)要求添加更多的元素。完整的樣品結(jié)果展示不到一秒,。