FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM),、I-V特性、脈沖(PUND),、靜態(tài)電滯回線(SHM),、疲勞(FM)、漏電流(LM),、電流-偏壓,、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜,、厚膜、體材料和電子陶瓷,、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究,。

FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀與探針臺配套使用，可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試,。動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源,，用戶可根據(jù)需要進行選擇，動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz～500kHz可選,，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選,，也可根據(jù)用戶需要進行定制。

本測試系統(tǒng)由主控器,、探針臺,、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內(nèi)置激勵測試電源,、電荷積分器,、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器,、通訊總線等功能,，系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測試時,，無需改變測試樣品的連接,，即可實現(xiàn)滯回，脈沖,，漏電,，IV等性能測試。

本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,，此電路取消了外接電容,，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,，減少了對測試的影響環(huán)節(jié),，容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度,。

本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口,，對于需要做高壓測試、高壓漏電流測試 的用戶,，可直接擴展此功能,。

用戶選擇此款設(shè)備，需向廠家提供測試頻率,、激勵測試電壓等要求,。

測試功能：

• 動態(tài)電滯回線(DHM)

• I-V特性

• 脈沖(PUND)

• 靜態(tài)電滯回線(SHM)

• 疲勞(FM)

• 漏電流(LM)

• 電流-偏壓

• 保持力(RM)

• 印跡(IM)

可擴展部件：

• 探針臺