產(chǎn)品名稱：Andor Technology光伏檢查儀iKon-M

產(chǎn)品型號：iKon-M

產(chǎn)品介紹：

Andor 的 PV Inspector NIR 相機(jī)旨在為在線電致發(fā)光和光致發(fā)光檢測提供超快的速度和靈敏度性能,，在 800 nm 以上提供 > 90% 的 QE,，并結(jié)合了邊緣抑制技術(shù)，以大限度地減少 NIR 中的邊緣效應(yīng),。1024 x 1024 陣列擁有高分辨率 13 μm 像素,，并受益于可忽略不計(jì)的暗電流和低至 -70°C 的熱電冷卻。PV Inspector 通過高達(dá) 5 MHz 的快速讀出速度提供高的吞吐量,，并結(jié)合“雙曝光環(huán)模式”,，允許快速曝光切換?？涉i定的 USB 2.0 端口可確保安全的抗震連接,。

PV Inspector 增強(qiáng)的 NIR 靈敏度和的高速模式能夠以超過每秒 1 個電池的速率進(jìn)行雙重曝光 EL 檢測，非常適合在縱梁和電池分選機(jī)中發(fā)現(xiàn)的高通量 PV 檢測系統(tǒng),?？焖俚碾p曝光成像允許在不同的偏差水平下對細(xì)胞進(jìn)行定量測量。

性能特點(diǎn)：

• QE > 90% 超過 800 nm,，針對 NIR 進(jìn)行了優(yōu)化 - 近紅外波段非常高的探測器靈敏度

• 5 MHz 和 3 MHz 讀出速度 - 用于高吞吐量電池檢測的快速幀速率

• 雙曝光環(huán)模式 - 用于曝光時間切換的采集模式

• 條紋抑制技術(shù) - 將 NIR 中的標(biāo)準(zhǔn)具效應(yīng)降至更低，優(yōu)化光學(xué)分辨率

• UltraVac - 對持續(xù)的真空完整性和保持冷卻和 QE 性能至關(guān)重要

• 單增透膜窗口設(shè)計(jì) - 近紅外優(yōu)化減反射涂層

• 熱電冷卻至 -70°C（風(fēng)冷） - 消除暗電流檢測限的關(guān)鍵

• 可鎖定 USB 連接 - 確保安全,、抗振連接

• 上電冷卻 - PV Inspector 無需連接 PC 即可保持穩(wěn)定的熱電冷卻

• 增強(qiáng)型基線夾 - 對于動態(tài)測量的定量準(zhǔn)確性至關(guān)重要,。

技術(shù)參數(shù)：

• 活動像素：1024 x 1024

• 傳感器尺寸：13.3 x 13.3毫米

• 像素大?。▽?/span>x高）：13µm x 13µm

• 圖像面積：13.3 x 13.3 mm，填充系數(shù)為百分之100

• max讀出速率：5 MHz

• 風(fēng)冷lowest溫度（環(huán)境溫度25°C）：-70oC

• 幀速率：highest 4.4 fps（全幀）

• 數(shù)字化：16位

• 系統(tǒng)窗口類型：單層AR涂層UV級熔融二氧化硅（NIR優(yōu)化）

• 接口：可鎖定USB 2.0

• 鏡頭支架：C型支架（可根據(jù)要求提供其他支架）

• 像素讀出速率：5,，3 MHz

• 線性度：優(yōu)于99%

• 垂直時鐘速度：4.25至64.25µs（軟件可選）

• 雙曝光周期時間：500ms

• 產(chǎn)地：英國