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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測(cè)試與分選設(shè)備>信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)/半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)>BW-3010A 半導(dǎo)體分立器件光耦測(cè)試系統(tǒng)

BW-3010A 半導(dǎo)體分立器件光耦測(cè)試系統(tǒng)

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陜西博微電通科技有限責(zé)任公司是一家致力于高精度半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,、電力電子設(shè)備,、電池安全管理系統(tǒng)及電力儲(chǔ)能解決方案的研發(fā)、生產(chǎn),、銷售的高科技企業(yè),。

公司位于古城西安西咸新區(qū)灃東新城能源金貿(mào)區(qū),地理位置環(huán)境*,,依托西安眾多高校及研究所,,公司擁有一批高素質(zhì)人才隊(duì)伍,從軟件開發(fā),、硬件設(shè)計(jì),、系統(tǒng)集成、產(chǎn)品升級(jí)迭代及售后服務(wù)均由專業(yè)技術(shù)人員完成,,多年來公司與深圳,、西安、杭州等多家高科技企業(yè)合作開發(fā)出針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試、電力電子,、能源管理系統(tǒng)系列產(chǎn)品,,經(jīng)過技術(shù)迭代,產(chǎn)品功能全面,,產(chǎn)品質(zhì)量可靠,,市場(chǎng)口碑優(yōu)秀。

   公司注重產(chǎn)品質(zhì)量,,注重客戶服務(wù)滿意度及產(chǎn)品體驗(yàn),,每一款產(chǎn)品出廠前都經(jīng)過嚴(yán)格的檢驗(yàn)或第三方機(jī)構(gòu)監(jiān)測(cè),并持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品功能,、根據(jù)客戶需求定制或迭代升級(jí)產(chǎn)品,。我們秉承“博厚共贏、服務(wù)入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的,、高品質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),,幫助解決客戶實(shí)際使用痛點(diǎn),開發(fā)難點(diǎn),,節(jié)約生產(chǎn)成本提高工作效率,,助力行業(yè)發(fā)展。

半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng):(Semiconductor test system)

針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件,、光耦,、IC半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)測(cè)試計(jì)量,、封裝測(cè)試,、IDM測(cè)試、晶圓測(cè)試,、DBC測(cè)試以及科研教學(xué)、智能電力,、軌道交通,、新能源汽車、白色家電等元器件應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈的來料檢驗(yàn),、器件選型及科研及院所,、實(shí)驗(yàn)室的數(shù)據(jù)驗(yàn)證分析和研發(fā)指導(dǎo)等。

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備可針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件,、光耦,、IC可進(jìn)行高精度靜態(tài)參數(shù)測(cè)試(包括導(dǎo)通、關(guān)斷,、擊穿,、漏電、增益等直流參數(shù))測(cè)試精度可達(dá)16位ADC;動(dòng)態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測(cè)試等,;環(huán)境老化測(cè)試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環(huán)PCT3000 )及熱特性測(cè)試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備/雪崩耐量測(cè)試UIS,、二極管浪涌測(cè)試IFSM、熱阻測(cè)試,、晶閘管直流參數(shù)測(cè)試SCR,、安全工作區(qū)正偏/反偏/短路安全工作區(qū)測(cè)試SOA,各類型探針臺(tái),、高精度高低溫箱及分立器件分選機(jī)系統(tǒng)等,。

電池安全管理及儲(chǔ)能:(Battery safety management and energy storage system)

電池安全管理系統(tǒng)主要是針對(duì)電池、蓄電池組,、儲(chǔ)能系統(tǒng)安全及應(yīng)用電池全生命周期系統(tǒng)解決方案,,主要產(chǎn)品覆蓋儲(chǔ)能電池BMS、后備電池BMS,、動(dòng)力電池BMS和電池監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)平臺(tái)等,,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于儲(chǔ)能,云計(jì)算,,數(shù)據(jù)中心,,通信網(wǎng)絡(luò),軌道交通,,以及商業(yè)和工業(yè)設(shè)施關(guān)鍵電源領(lǐng)域,,將成為國家綠色能源轉(zhuǎn)型重要系統(tǒng)保障。

 

 

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,,功率器件可靠性測(cè)試,,熱特性安全測(cè)試,儲(chǔ)能及電力能源安全管理系統(tǒng)

BW-3010A

光藕參數(shù)測(cè)試儀

品牌: 博微電通

名稱:晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀

型號(hào): BW-3010A

用途: BW-3010A型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試,。

                                                                  BW-3010A產(chǎn)品介紹:

BW-3010A型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試,,BW-3010A為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO,、傳輸比(CTR)等 ,。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測(cè)試條件和測(cè)試參數(shù)的設(shè)定,測(cè)試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測(cè)試條件可以任意設(shè)置,,測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,,操作簡便,實(shí)用性強(qiáng),。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè),、新能源行業(yè)、封裝測(cè)試,、家電行業(yè),、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗(yàn),、產(chǎn)品選型等重要檢測(cè)設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào):BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀,;

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量:<4.5Kg

主機(jī)顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存),、5℃~50℃(工作);

相對(duì)濕度:≯85%,;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa,;

防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,,導(dǎo)電粉塵等,;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%,、50Hz±1Hz,;

      工作時(shí)間:連續(xù);



服務(wù)領(lǐng)域:

image.png

應(yīng)用場(chǎng)景:

    ?選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

    ?檢驗(yàn)篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,,把控器件的良品率)

產(chǎn)品特點(diǎn):

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.

    ?高壓測(cè)試電流分辨率1uA,測(cè)試電壓可達(dá)1500V

    ?重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題,;

    ?軟件自校準(zhǔn)功能,;

    ?自動(dòng)測(cè)試測(cè)DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試,;

    ?DUT的功能檢測(cè)通過LCD顯示出被測(cè)器件/DUT的類型,,顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動(dòng),、自動(dòng)測(cè)試模式,。

         BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系

型號(hào)類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測(cè)試端

K

K測(cè)試端

E

E測(cè)試端

C

C測(cè)試端

     

                                     BW-3010A測(cè)試技術(shù)指標(biāo):

1、 耐壓(VCEO)測(cè)試指標(biāo)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

2,、輸入正向壓降(VF)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

3,、反向漏電流(ICEO)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

4、電流傳輸比(CTR)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE0-20V

IF:0-100MA

5,、輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-1.000A

IF:0-1.000A

6,、極性識(shí)別方式:自動(dòng)極性轉(zhuǎn)向測(cè)試   (自動(dòng)識(shí)別方向)

7、 可分檔位總數(shù):10

           

  BW-3010A測(cè)試定義與規(guī)范:


AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測(cè)試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測(cè)試電流.

Vce:Bv:表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電壓.

Vce:Ir: 表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電流.

CTR:IF:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流,。

CTR:Vce:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。

Vsat:IF:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流,。

Vsat:Ic:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流,。




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