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XF1 Langer無(wú)源近場(chǎng)探頭組

參考價(jià)8.00
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
規(guī)格
XF18.00元10 套可售

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


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射頻微波器件,,EMC測(cè)試器件,,SIM卡

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣

Langer無(wú)源近場(chǎng)探頭組

品牌:Langer EMV-Technik   

型號(hào):XF1

無(wú)源XF1近場(chǎng)探頭組(30MHz-6GHz)


無(wú)源XF(30MHz-6GHz)

XF系列探頭包含4個(gè)無(wú)源磁場(chǎng)探頭和3個(gè)無(wú)源電場(chǎng)探頭,用于在電子模塊研發(fā)階段進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)的測(cè)量,,覆蓋頻率范圍為30MHz到6GHz,。這種探頭內(nèi)置阻抗匹配器,因而與其他探頭(如RF型探頭)相比在低頻區(qū)域較不敏感,。由于其頻率范圍寬并包含從很大到很小尺寸的各種探頭,,因而有著廣泛的應(yīng)用。探頭的組合按照顧客的需求,。

XF系列的探頭可以用于逐步查找模塊的干擾場(chǎng)源,。我們建議,首先使用大型高靈敏探頭從遠(yuǎn)距離查找模塊的干擾放射源,,然后再用更高分辨率的探頭進(jìn)一步精確定位干擾源,。通過(guò)相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭,能夠測(cè)量出電磁場(chǎng)的方向及其分布,。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便,,并采用外皮電流衰減。磁場(chǎng)探頭采用電屏蔽設(shè)計(jì),。

這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端,。這些近場(chǎng)探頭的內(nèi)部安裝有終端電阻。



Langer無(wú)源近場(chǎng)探頭組XF1(30MHz-6GHz)簡(jiǎn)介:

包含4個(gè)無(wú)源磁場(chǎng)探頭和1無(wú)源電場(chǎng)探頭,,所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz,,用于在研發(fā)階段測(cè)量磁場(chǎng)和電場(chǎng)。由于在探頭內(nèi)部配置了阻抗匹配器,,該探頭組與其他探頭(如RF型探頭)相比,,在低頻區(qū)較不敏感。

使用XF 1系列的探頭,,可以逐步辨識(shí)電子模塊中的干擾磁場(chǎng)源,。例如,首先用XF-R 400-1型探頭檢測(cè)電子模塊總體發(fā)射出的干擾場(chǎng),,然后再用高分辨率探頭更準(zhǔn)確地識(shí)別干擾源,。電場(chǎng)探頭用于檢測(cè)電子模塊表面的干擾電場(chǎng)。

通過(guò)相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭,,能夠測(cè)量出電磁場(chǎng)的方向及其分布,。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減,。磁場(chǎng)探頭采用電屏蔽設(shè)計(jì),。這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場(chǎng)探頭的內(nèi)部安裝有終端電阻。



Langer XF1近場(chǎng)探頭組配置:

1x XF-R 400-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

1x XF-R 3-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

1x XF-B 3-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

1x XF-E 10, 電場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

1x XF-U 2.5-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測(cè)量電纜

1x XF 1 qg, XF1系列 快速指南

1x Case 5(24 x 19.5 x 6) cm


簡(jiǎn)短的介紹

XF-R 400-1磁場(chǎng)探頭 因較大的直徑(25mm)而擁有很高的靈敏度,,允許在10cm以?xún)?nèi)的距離測(cè)量模塊和設(shè)備,。

XF-R 400-1.JPG


XF-R 3-1型近場(chǎng)探頭: 用于高分辨率直接檢測(cè)組件上,譬如IC的引腳或外殼,、布線,、旁路電容器和電磁兼容性(EMC)元件等區(qū)域的射頻磁場(chǎng)。

XF-R 3-1.JPG


XF-B 3-1型磁場(chǎng)探頭的測(cè)量線圈相對(duì)垂直于探頭柄,。當(dāng)探頭豎直放置到電路板上時(shí),,其測(cè)量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測(cè)量到印刷電路板表面上很難達(dá)到的一些位置,,如開(kāi)關(guān)調(diào)節(jié)器的大元件之間的位置,。

XF-B 3-1.JPG


XF-E 10型電場(chǎng)探頭底面的電極僅有約0.2mm寬,用于定位最小的電場(chǎng),,例如0.1mm寬的導(dǎo)線,、高針數(shù)集成電路的單個(gè)引腳等發(fā)射的電場(chǎng)。測(cè)試時(shí)將該電場(chǎng)探頭放置在受測(cè)物體上,。

XF-E 10.JPG


XF-U 2.5-1型磁場(chǎng)探頭是一個(gè)近場(chǎng)探頭,,用于選擇性測(cè)量導(dǎo)線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流,。這個(gè)探頭有一個(gè)大約0.5mm寬的磁場(chǎng)敏感缺口,,測(cè)量時(shí)將這個(gè)缺口放在布線、IC或者電容器的連接點(diǎn)上,。

XF-U 2.5-1.JPG


無(wú)源XF(30MHz-6GHz)其他近場(chǎng)探頭介紹:

XF-R 100-1型磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)用于測(cè)量模塊,、設(shè)備或電纜,可以在距離被測(cè)物3cm以?xún)?nèi)使用,。利用該磁場(chǎng)探頭能夠識(shí)別較大組件是否為潛在的干擾源。這種磁場(chǎng)探頭呈現(xiàn)很高的帶寬和線性度,。

XF-R 100-1.JPG


XF-E 04s電場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz):這種近場(chǎng)探頭可以檢測(cè)受測(cè)對(duì)象(IC)耦合產(chǎn)生的電場(chǎng),。探頭的側(cè)面采用屏障設(shè)計(jì),所以側(cè)面作用的電場(chǎng)不影響測(cè)量結(jié)果,。這種近場(chǎng)探頭的靈敏度允許在0.5到10mm的距離檢測(cè)集成電路及其他電子模塊的電場(chǎng),。

XF-E 04s.JPG


XF-E 09s電場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz):這種近場(chǎng)探頭可以檢測(cè)受測(cè)對(duì)象(IC)耦合產(chǎn)生的電場(chǎng)。探頭的側(cè)面采用屏障設(shè)計(jì),,所以側(cè)面作用的電場(chǎng)不影響測(cè)量結(jié)果,。這種近場(chǎng)探頭的靈敏度允許在0.5到10mm的距離檢測(cè)集成電路及其他電子模塊的電場(chǎng)。

XF-E 09s.JPG





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