JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在鋼鐵,、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,，作為研究開發(fā)和分析工具被廣泛使用,，其用途越來越廣。此外,，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,，礦物等資源能源研究,、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn),。與此相應(yīng),，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器,。JXA-iHP100能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作,，是更先進(jìn)的一體化EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱

 JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀

◇ [Setting]

自動定位,，準(zhǔn)確安裝樣品臺,！迅速找到想觀察的點！

進(jìn)樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成,。從導(dǎo)航像能夠分析區(qū)域,。

◇ [Analysis]

充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像

繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng),，EPMA立馬進(jìn)行元素分析

光學(xué)顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合,，任誰都可以拍到高級的SEM像,。

【live Analysis】

通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】,。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定,。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM,、EDS,、XRF、WDS,、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能,。

通過WD/ED integration,，分析時間縮短的例子

integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合

◇ [Self Maintenance]

內(nèi)置18種類校正樣品,，有效進(jìn)行校正

配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤；利用夜間對儀器進(jìn)行校正,，提高了工作效率,。

按照【維護(hù)通知功能】，在必要時期對儀器進(jìn)行自我維護(hù),，保持設(shè)備最佳狀態(tài),。

維護(hù)通知功能【客戶支持工具】