LTS-202 -115℃射流高低溫沖擊測試機 7-40 Chiller
| 參考價 | ￥ 159377 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
- 品牌 LNEYA/無錫冠亞
- 型號 LTS-202
- 產(chǎn)地 江蘇省無錫市新吳區(qū)機光電工業(yè)園鴻運路203號
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/16 11:51:08
- 訪問次數(shù) 1059
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制冷加熱循環(huán)器、加熱制冷控溫系統(tǒng),、反應釜溫控系統(tǒng),、加熱循環(huán)器、低溫冷凍機,、低溫制冷循環(huán)器,、冷卻水循環(huán)器、工業(yè)冷處理低溫箱,、低溫冷凍機,、加熱制冷恒溫槽等設(shè)備
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 冷卻方式 | 水冷式 | 儀器種類 | 一體式 |
| 應用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,汽車 |
無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導體控溫解決方案
主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備,，
?泛應?于半導體,、LED、LCD,、太陽能光伏等領(lǐng)域,。
【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品：
半導體專溫控設(shè)備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設(shè)備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風控溫裝置
半導體?低溫測試設(shè)備
電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液,、乙二醇水溶液,、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-115℃射流高低溫沖擊測試機 7-40 Chiller
-115℃射流高低溫沖擊測試機 7-40 Chiller
射流式高低溫沖擊測試機給芯片,、模塊,、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度,。
是對產(chǎn)品電性能測試,、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備,。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃,，升降溫速率?常快速,，150℃?-55℃＜10秒,，zui??流量：30m3/h；
實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,，實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作,、?動操作,、遠程控制
檢查光模塊高低溫測試設(shè)備的安全裝置，包括超溫保護、過載保護,、漏電保護等,。確保安全裝置完好無損，工作正常,。如有異常,，應及時維修或更換。
6,、設(shè)備運行測試
定期進行光模塊高低溫測試設(shè)備運行測試,，以檢查設(shè)備的性能和可靠性。在測試過程中,，應逐步增加溫度和濕度條件,，并觀察設(shè)備的反應和讀數(shù)是否正常。如有異常,，應及時排查問題并修復,。
7、記錄和維護記錄
對光模塊高低溫測試設(shè)備每次維護保養(yǎng)進行記錄,，包括檢查的項目,、發(fā)現(xiàn)的問題、采取的措施等,。保持記錄的完整性和準確性,，以便追蹤和管理設(shè)備的維護歷史。
總之,，光模塊高低溫測試設(shè)備的維護保養(yǎng)是確保設(shè)備正常運行和使用壽命的節(jié),，通過定期檢查、清潔,、維修和記錄等方法,，可以有效地提升設(shè)備的性能和可靠性，降低故障率,，從而為半導體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的測試保障,。
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