OCS 粒子尺寸和形狀分布測(cè)試儀（PSSD） 用于對(duì)顆粒的尺寸和形狀分布進(jìn)行快速分析和分級(jí)，同時(shí)對(duì)物料外觀缺陷進(jìn)行快速檢測(cè),。待測(cè)物料通過振動(dòng)平臺(tái)傳送至末端以自由落體方式下落,，下落過程中每個(gè)粒子都被線掃描相機(jī)捕捉并對(duì)其外形尺寸進(jìn)行分析，可檢測(cè)的外觀缺陷包括大粒,、小粒,、聯(lián)粒,、拖尾,、絲發(fā)、碎屑/粉塵等,。PSSD 可以離線配置于用戶實(shí)驗(yàn)室,，也可采用旁路采樣的在線配置方式，測(cè)試數(shù)據(jù)通過通訊端口輸送至控制室 DCS,，用于質(zhì)量分析和控制,，如監(jiān)測(cè)造粒系統(tǒng)（評(píng)估切刀的磨損程度），測(cè)量粒子重量（選配稱重系統(tǒng)）等,。

可測(cè)試的原材料 

■所有類型粒子 

特點(diǎn) 

■高速CMOS線掃描相機(jī)（單色） 

■可檢測(cè)到的最小材料尺寸： 71 μm 

■zui高處理量可達(dá)18 公斤/小時(shí),，根據(jù)具體材料性能差異而不同 

■結(jié)果實(shí)時(shí)可視化 

兼容于以下設(shè)備 

■OCS 粒子黑點(diǎn)雜質(zhì)檢測(cè)儀(PS25C）

粒子尺寸和形狀分布測(cè)試儀（PSSD）