碳材料樣品,，低電壓下，穿透深度較小,，可以獲取樣品表面真實形貌,，細節(jié)更豐富。

毛發(fā)樣品,，在低電壓下,，電子束輻照損傷減小，同時消除了荷電效應,。

 低真空

過濾纖維管材料,，導電性差，在高真空下荷電明顯,，在低真空下,，無需鍍膜即可實現(xiàn)對不導電樣品的直接觀察。

 大視場

生物樣品,，采用大視場觀察,，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節(jié)，展現(xiàn)跨尺度分析,。

光學導航

想看哪里點哪里,，導航更輕松
標配倉內攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片,，快速定位樣品,。

手勢快捷導航

可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動,、框選放大,，進行快捷導航
如框選放大：在低倍導航下，獲得樣品的大視野情況,，可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,，提高工作效率。

防碰撞技術

采取多維度的防碰撞方案：
1. 手動輸入樣品高度,，精準控制樣品與物鏡下端距離,，防止發(fā)生碰撞,；
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術，運動過程中對倉內的畫面進行實時監(jiān)測,；
3. 硬件防碰撞,，可在碰撞一瞬間停止電機，減少碰撞損傷,。(*SEM3200A需選配此功能）

智能輔助消像散

直觀反映整個視野的像散程度,，通過鼠標點擊清晰處，可快速調節(jié)像散至最佳,。

自動聚焦

一鍵聚焦,，快速成像。

自動消像散

一鍵消像散,，提高工作效率,。

自動亮度對比度

一鍵自動亮度對比度，調出灰度合適圖像,。

多種信息同時成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,。可同時觀察到樣品的形貌信息和
成分信息,。

快速圖像旋轉

拖動一條線,，圖像立刻“擺正角度"。

鍍層樣品：

鎢鋼合金樣品：

四分割背散射電子探測器——多通道成像

探測器設計精巧,，靈敏度高，采用4分割設計,，無需傾斜樣品,，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

四個單通道的陰影像

成分像

能譜

LED小燈珠能譜面分析結果,。 

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大,，高分辨EBSD的測試需求,，能夠對金屬、陶瓷,、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析,。
該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向,，判斷晶界和孿晶,，對材料組織結構進行精確判斷。