數(shù)據(jù)挖掘第一步：512M大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

存儲(chǔ)深度等于采樣率乘以采樣時(shí)間,，512M大存儲(chǔ)深度,，長(zhǎng)時(shí)間捕獲波形，依然不會(huì)出現(xiàn)波形失真,。

不同存儲(chǔ)深度下的采樣率和時(shí)間檔位對(duì)應(yīng)表

數(shù)據(jù)挖掘第二步：1M刷新率異常捕獲

波形刷新率越高,，死區(qū)時(shí)間就越短。ZLG 致遠(yuǎn)ZDS4034 Plus 數(shù)據(jù)挖掘型示波器,，標(biāo)配1M次波形刷新率,，配合模板觸發(fā)，讓您最大概率的發(fā)現(xiàn)并捕獲異常信號(hào),。

不同刷新率對(duì)應(yīng)的異常捕獲時(shí)間

注：以上條件為4GSa/s采樣率,，10ns/div,，錯(cuò)誤檢出的概率99.9%。

數(shù)據(jù)挖掘第三步：參數(shù)測(cè)量

不同于傳統(tǒng)示波器只測(cè)一個(gè)周期,，或通過(guò)抽樣減少數(shù)據(jù)量再測(cè)量的模式,，ZDS4000系列示波器通過(guò)FPGA全硬件并行處理，基于原始采樣率和512Mpts全存儲(chǔ)深度,，對(duì)每一幀波形每一周期進(jìn)行測(cè)量統(tǒng)計(jì),，僅需約1秒即可實(shí)現(xiàn)對(duì)512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測(cè)量，測(cè)試項(xiàng)目可達(dá)50余種,，并且支持24種參數(shù)同時(shí)顯示,。這與傳統(tǒng)意義示波器的測(cè)量有著本質(zhì)的區(qū)別，也是示波器測(cè)試手段與測(cè)試方法的突破,。

數(shù)據(jù)挖掘第四步：波形搜索與智能標(biāo)注

ZDS4000系列示波器不只提供了512M的波形大數(shù)據(jù),，還配有強(qiáng)大的波形搜索功能和智能標(biāo)注功能。您可以先通過(guò)邊沿,、脈寬,、欠幅、上升/下降時(shí)間,、周期/頻率等多種搜索條件來(lái)定位512Mpts波形數(shù)據(jù)中的異常點(diǎn),，再對(duì)找出的異常信號(hào)使用標(biāo)注功能，對(duì)異常信號(hào)進(jìn)行標(biāo)注,。這里,，所有的測(cè)量都是經(jīng)過(guò)FPGA全硬件加速，整個(gè)過(guò)程1S左右即可完成,。再對(duì)找出的異常信號(hào)使用標(biāo)注功能,，對(duì)異常信號(hào)進(jìn)行標(biāo)注。

時(shí)序分析

ZDS4000系列示波器免費(fèi)標(biāo)配時(shí)序分析功能,，支持自定義參數(shù)配置對(duì)I2C,、I2S、SPI、MIPI-RFFE,、CAN,、Reset、Switch進(jìn)行分析處理,。自動(dòng)分析多個(gè)波形中最差情況是否滿足標(biāo)準(zhǔn),，可直接篩選某個(gè)特定節(jié)點(diǎn)并直接生成附帶截圖的報(bào)告。

環(huán)路測(cè)試

致遠(yuǎn)電子 ZDS4000系列示波器支持環(huán)路測(cè)試分析軟件,。相對(duì)于幾十萬(wàn)的專業(yè)環(huán)路分析儀器,，內(nèi)嵌的環(huán)路測(cè)試分析軟件不僅有完善的環(huán)路測(cè)試方法和精準(zhǔn)的測(cè)量精度， 并且對(duì)測(cè)試操作和用戶體驗(yàn)進(jìn)行了創(chuàng)新性地設(shè)計(jì),。

電源分析

開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性,。電源測(cè)試項(xiàng)目多，計(jì)算量大,，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問(wèn)題一直困擾著工程師們,，為了解決這些問(wèn)題，致遠(yuǎn)電子在示波器中增加開(kāi)關(guān)損耗,、SOA,、電感測(cè)試等電源分析功能。如在電感測(cè)試功能中可直接對(duì)電感,、有功功率等項(xiàng)目進(jìn)行計(jì)算,，方便工程師快速、準(zhǔn)確地測(cè)試電源產(chǎn)品,。