![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/2.png)
*軟件界面僅供參考
純中文的操作界面
功能設(shè)計(jì)簡單易操作。符合國人使用習(xí)慣,,即使是新手用戶,,簡單了解后也能快速上手。
完善的自動化功能
自動亮度對比度、自動聚焦,、自動像散,,均可一鍵調(diào)節(jié),提高工作效率,。
豐富的測量工具
長度,、面積、圓度,、角度等測量功能強(qiáng)大的照片管理和預(yù)覽,、編輯功能。
光學(xué)導(dǎo)航
想看哪里點(diǎn)哪里,,導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航攝像頭,,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品,。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/3.png)
防撞設(shè)計(jì)
對新手更友好的防碰撞設(shè)計(jì),,最大限度保護(hù)敏感單元。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/4.png)
一鍵成像
*軟件一鍵成像,,新手也能輕松駕馭,。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/5.png)
分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一,輕松體驗(yàn)優(yōu)質(zhì)性能,。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/6.png)
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/7.png)
SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,。可同時觀察到樣品的形貌信息和成分信息,。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/8.png)
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/9.png)
SE:3.9 nm @20 kV
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/10.png)
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221123/%E7%BB%84%201145@3x.png)
BSE:4.5 nm @ 20 kV
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設(shè)計(jì)精巧,,靈敏度高,采用4分割設(shè)計(jì),,無需傾斜樣品,,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/12.png)
四個單通道的陰影像
成分像
· 二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下,,荷電效應(yīng)明顯減弱,,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/13.png)
鐵礦石-(SE)
鐵礦石-(BSE)
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結(jié)果,。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/14.png)
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大,,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷,、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,,能夠識別晶粒大小和取向,,判斷晶界和孿晶,,對材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。
![](https://img.ciqtek.com/public/upload/ueditor/image/20221122/15.png)