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XDL230 XAN 252 二手日立牛津費(fèi)希爾膜厚儀鍍層測(cè)厚儀回收

參考價(jià) 1419138
訂貨量 ≥99臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 深圳市宏泰精密設(shè)備有限公司
  • 品牌 Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
  • 型號(hào) XDL230 XAN 252
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間 2024/4/12 11:36:33
  • 訪問(wèn)次數(shù) 458

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專(zhuān)業(yè)回收銷(xiāo)售進(jìn)口儀器儀表和自動(dòng)化設(shè)備

(1)電子測(cè)量?jī)x器:網(wǎng)絡(luò)分析儀,,阻抗分析儀、綜合測(cè)試儀,、頻譜分析儀,、電子負(fù)載、示波器,、測(cè)色儀(色差儀),、功率計(jì)、頻率計(jì),、數(shù)字萬(wàn)用表,、信號(hào)源等二手儀器。  量?jī)x量具:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,、二次元影像測(cè)量?jī)x,、工具/金相顯微鏡、圓度儀,、高度儀,、輪廓投影儀、3D輪廓測(cè)量?jī)x等,!   分析儀表:能量射散X光譜儀,、X熒光光譜儀、氣相色譜儀,、氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀等各類(lèi)光譜儀,、色譜儀、質(zhì)譜儀以及二手膜厚儀,、X-ray檢測(cè)設(shè)備等各類(lèi)儀器儀表。


(2)SMT/LED/TP自動(dòng)化設(shè)備:貼片機(jī),、邦定機(jī),、插件機(jī)、回流焊,、波峰焊,、分板機(jī)、固晶機(jī),、焊線機(jī),、晶圓劃片機(jī)、光刻機(jī),、激光蝕刻機(jī),、真空貼合機(jī)、脫泡機(jī),、AOI,、SPI,、ICT、X-ray,、COG,、FOG、MOCVD,、真空鍍膜機(jī),、機(jī)器人、冷熱沖擊箱,、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱等,!

(3)以及整廠打包實(shí)驗(yàn)室儀器,工廠儀器及整廠設(shè)備,。

二手儀器,,二手量?jī)x,二手ROHS檢測(cè)儀,,二手X-ray檢測(cè)機(jī),,二手X熒光光譜儀,二手膜厚儀,,二手色差儀,,二手示波器,二手頻譜分析儀,,二手網(wǎng)絡(luò)分析儀,,二手顯微鏡,二次元影像儀,,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),,AOI,自動(dòng)化設(shè)備,精密數(shù)控設(shè)備,,工控設(shè)備等

保修期限 3年以上 產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口
產(chǎn)品成色 5成新 出廠年份 不限
使用年限 5-7年 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,綜合
回收類(lèi)型 二手膜厚儀回收

二手日立牛津費(fèi)希爾膜厚儀鍍層測(cè)厚儀回收介紹:

膜厚測(cè)試儀,,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,,電渦流鍍層測(cè)厚儀,,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),,利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,,來(lái)表示其覆層厚度,。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚測(cè)試儀,是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱(chēng)為二次熒光,,,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值,。

二手日立牛津費(fèi)希爾膜厚儀鍍層測(cè)厚儀回收簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成,。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性,。

X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜,。通過(guò)這樣的原理,,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x,又稱(chēng)金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x,,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,,故市場(chǎng)上普通使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀,。
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右,。


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