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二手x-ray檢測設(shè)備回收

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專業(yè)回收銷售進(jìn)口儀器儀表和自動(dòng)化設(shè)備

(1)電子測量儀器:網(wǎng)絡(luò)分析儀,,阻抗分析儀、綜合測試儀,、頻譜分析儀,、電子負(fù)載、示波器,、測色儀(色差儀),、功率計(jì)、頻率計(jì)、數(shù)字萬用表,、信號源等二手儀器,。  量儀量具:三坐標(biāo)測量儀、二次元影像測量儀,、工具/金相顯微鏡,、圓度儀、高度儀,、輪廓投影儀、3D輪廓測量儀等,!   分析儀表:能量射散X光譜儀,、X熒光光譜儀、氣相色譜儀,、氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀等各類光譜儀,、色譜儀、質(zhì)譜儀以及二手膜厚儀,、X-ray檢測設(shè)備等各類儀器儀表,。


(2)SMT/LED/TP自動(dòng)化設(shè)備:貼片機(jī)、邦定機(jī),、插件機(jī),、回流焊、波峰焊,、分板機(jī),、固晶機(jī)、焊線機(jī),、晶圓劃片機(jī),、光刻機(jī)、激光蝕刻機(jī),、真空貼合機(jī),、脫泡機(jī)、AOI,、SPI,、ICT、X-ray,、COG,、FOG、MOCVD,、真空鍍膜機(jī),、機(jī)器人、冷熱沖擊箱、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱等,!

(3)以及整廠打包實(shí)驗(yàn)室儀器,,工廠儀器及整廠設(shè)備。

二手儀器,,二手量儀,,二手ROHS檢測儀,二手X-ray檢測機(jī),,二手X熒光光譜儀,,二手膜厚儀,二手色差儀,,二手示波器,,二手頻譜分析儀,二手網(wǎng)絡(luò)分析儀,,二手顯微鏡,,二次元影像儀,三坐標(biāo)測量機(jī),,AOI,自動(dòng)化設(shè)備,,精密數(shù)控設(shè)備,工控設(shè)備等

應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,電氣,綜合

二手x-ray檢測設(shè)備回收利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來檢測電子元器件,、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì),、以及SMT各類型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等。

1,、集成電路的封裝工藝檢測:層剝離,、開裂、空洞和打線工藝,;
2,、印刷電路板制造工藝檢測:焊線偏移,橋接,,開路,;
3、表面貼裝工藝焊接性檢測:焊點(diǎn)空洞的檢測和測量,;
4,、連接線路檢查:開路,短路,,異?;虿涣歼B接的缺陷;
5,、錫球數(shù)組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗(yàn),;
6,、高密度的塑料材質(zhì)破裂或金屬材質(zhì)檢驗(yàn);

7,、芯片尺寸量測,,打線線弧量測,組件吃錫面積比例量測,。

二手x-ray檢測設(shè)備回收能量—電荷系數(shù)
X射線在介質(zhì)物質(zhì)中平均得到的電荷(N)與損耗的能量(E)的比值,,被我們稱為能量—電荷轉(zhuǎn)換系數(shù)。由于能量—電荷轉(zhuǎn)換具有統(tǒng)計(jì)性,,所以一般表示為平均值,。
能量分辨率
X射線探測器中最為重要的系統(tǒng)參數(shù)便是能量分辨率,能量分辨率反映了探測器對不同類型的入射粒子的能量分辨能力,。能量分辨率越小,,則表示探測器可區(qū)分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為絕對,、相對分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬(FWHM)來表示的被稱為絕對分辨率,;而相對分辨率則是使用絕對分辨率與峰位的比值來表示,。
探測器的能量分辨率受諸多因素的影響,如:探測器的有效探測面積,、探測元器件類型,、甑別和計(jì)數(shù)器能力、后續(xù)處理電路時(shí)間常數(shù)等,。在此時(shí)間常數(shù)通常指脈沖處理器所耗費(fèi)時(shí)間,,也就是是射線從進(jìn)入探測器后,其測量并處理能量所需時(shí)長,。探測器分辨率與其時(shí)間常數(shù),、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關(guān)聯(lián),,即:面積大小與分辨率高低成反比,;當(dāng)面積不變時(shí),時(shí)間常數(shù)與光子測量準(zhǔn)確度同時(shí)增加時(shí),,其分辨效果越好[5],。由此不難看出,時(shí)間常數(shù)是影響分析效率與能量分辨率的重要因素,,然而兩者卻無法同一,,因此從儀器實(shí)用層面出發(fā),必須讓分辨率與靈敏度兼顧,。
輸出穩(wěn)定性

探測器能量—電荷轉(zhuǎn)換系數(shù)對于環(huán)境溫度t和供電電源電壓V等相關(guān)條件的敏感性常被稱作其輸出穩(wěn)定性,。

探測效率
探測效率多被定義為記錄到的脈沖數(shù)與入射X射線光量子數(shù)的比值,。由于X射線和物質(zhì)的作用并不是連續(xù)進(jìn)行的,同時(shí)X射線光量子與物質(zhì)作用產(chǎn)生磷光或電離也并非絕對,,因此X射線探測器探測效率不會(huì)大于1,。一般我們按照探測效率的不同特性將其分為兩類:絕對效率和本征效率。X射線總?cè)肷涔饬孔訑?shù)與輻射源發(fā)射的量子數(shù)的比值稱為絕對效率,。通常由于探測器的感應(yīng)區(qū)相對于輻射發(fā)射光量子只是一個(gè)很小的范圍,,而輻射源是均勻光發(fā)射,這樣一來探測器可以接收到有限的輻射光子,,所以絕對探測效值率既受到探測器本生特性的影響,,也和探測器系統(tǒng)的外觀設(shè)計(jì)有關(guān)。本征效率是指系統(tǒng)所記錄到的脈沖個(gè)數(shù)同入射到探測器感應(yīng)區(qū)的光量子數(shù)之比,。


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