電子電路在線維修測試儀產(chǎn)品特點：

◆好的測試技術(shù)，好的驅(qū)動能力,，故障原因的電路板皆可修好

◆友好簡單的中文操作界面,，不經(jīng)訓(xùn)練，均可成為維修

◆無需電路原理圖,，不必知道器件型號,，對電路板皆可快速維修

◆40/40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫,；

◆40/40×2（ASA）V/I,，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較,，優(yōu),，操作方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試,。
◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄,，比較分析來測試。
技術(shù)規(guī)格：
并口
Windows界面可在WIN98,，WIN2000,，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快,，效率更高,。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測儀檢測更加準(zhǔn)確

■ 功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試
■ 功能測試外供電源穩(wěn)定——各種大、中,、小型被測電路板皆可測試
■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障
■ V/I測試正負(fù)掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線
■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定
■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試

◆集成電路在線功能測試

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù),，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列,、
4000/45000邏輯IC,、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1,、快速測試：直接
顯示測試結(jié)果,，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示全部測試過程,，測試激勵,。預(yù)期和實
際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3,、器件識別：查找無標(biāo)記型號IC或同功能不同型號的IC,。

◆集成電路在線狀態(tài)測試

通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC,。1,、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)IC的引腳關(guān)系,，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中 2,、狀態(tài)比較：同故障
板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較,，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫
中的各IC的狀態(tài)資料,。

◆集成電路離線功能測試

電子電路在線維修測試儀離線測試IC功能好壞,，自動識別未知型號的芯片

◆V/I曲線測試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在線
學(xué)習(xí)板上各節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線）,，并存入數(shù)據(jù)庫中 2,、曲線比較：同故
障板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點相關(guān)的IC
是否損壞 3,、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模
集成電路分析測試
網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系,，；輔助判斷芯片的好壞,。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1,、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式）
2、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式）
3,、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式）
4,、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立,，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來,，隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1,、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2,、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng),，不斷對測試圖形加
以調(diào)整、修改,。

3,、4種測試方式：
a）完整執(zhí)行一個測試
b）執(zhí)行一個測試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運(yùn)行

備注信息：
比舊款的4040/8080增加了以下功能：

◆網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，,；輔助判斷芯片的好壞,。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式）
2,、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式）
3,、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式）
4、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件,。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立,，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來,，隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1,、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2,、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng),，不斷對測試圖形加
以調(diào)整,、修改。

3,、4種測試方式：
a）完整執(zhí)行一個測試
b）執(zhí)行一個測試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運(yùn)行

◆操作系統(tǒng)的兼容性增強(qiáng)